专利名称: |
镜面可变角度绝对反射比法和反射计 |
摘要: |
本申请的发明名称是镜面可变角度绝对反射比法和反射计。镜面可变角度绝对反射计。该装置包括光源和光源的光路中的镜子系统。镜子系统被配置为将来自光源的光束朝向光学反射性的样品反射。该装置还包括在样品之后的光路中设置的角镜。角镜配置为将光束反射回样品。该装置还包括连接到角镜的机构。该机构配置为使角镜围绕样品的轴旋转。该装置还包括在角镜之后的光路中的检测器,使得检测器接收从角镜反射,然后回到样品,然后回到镜子系统,并且然后到达检测器的光。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
美国;US |
申请人: |
波音公司 |
发明人: |
L·B·沙沃格;J·T·墨菲 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-03-07T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-09-17T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910179379.X |
公开号: |
CN110243787A |
代理机构: |
北京纪凯知识产权代理有限公司 |
代理人: |
张全信;董志勇 |
分类号: |
G01N21/55(2014.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
美国伊利诺伊州 |
主权项: |
1.镜面可变角度绝对反射计(1200),其包括: 光源((302)、(1202)); 在所述光源((302)、(1202))的光路中的镜子系统(1204),所述镜子系统(1204)配置为将来自所述光源((302)、(1202))的光束朝向光学反射性的样品((114)、(306)、(1206))反射; 设置在所述样品((114)、(1206))之后的所述光路中的角镜(1208),所述角镜(1208)配置为将所述光束反射回所述样品((114)、(306)、(1206)); 连接到所述角镜(1208)的机构,所述机构配置为使所述角镜(1208)围绕所述样品((114)、(306)、(1206))的轴((101)、(1211))旋转;和 在所述角镜(1208)之后的所述光路中的检测器((110)、(220)、(1212)),使得所述检测器((110)、(220)、(1212))接收已从所述角镜(1208)反射,然后回到所述样品((114)、(306)、(1206)),然后回到所述镜子系统(1204),并且然后到所述检测器((110)、(220)、(1212))的光。 2.权利要求1所述的镜面可变角度绝对反射计(1200),其中所述角镜(1208)包括“V”形楔形物(100),其中所述“V”形楔形物(100)的内角面向所述样品((114)、(306)、(1206)),或任选地其中所述光源((302)、(1202))包括可调谐激光器。 3.前述权利要求中任一项所述的镜面可变角度绝对反射计(1200),进一步包括: 偏振控制器,其设置在所述光源((302)、(1202))和所述镜子系统(1204)之间的所述光路中。 4.权利要求3所述的镜面可变角度绝对反射计(1200),进一步包括: 第二偏振控制器,其设置在所述镜子系统(1204)和所述检测器((110)、(220)、(1212))之间的所述光路中。 5.权利要求1-2中任一项所述的镜面可变角度绝对反射计(1200),其中所述镜子系统(1204)包括单个镜子((104)、(106)、(108)),在所述单个镜子((104)、(106)、(108))的第一侧上具有第一面和在所述单个镜子((104)、(106)、(108))第二侧上具有第二面,其中所述第一面配置为将来自所述光源((302)、(1202))的光反射到所述样品((114)、(306)、(1206)),并且其中所述第二面配置为将来自所述样品((114)、(306)、(1206))的光朝向所述检测器((110)、(220)、(1212))反射。 6.权利要求1-2中任一项所述的镜面可变角度绝对反射计(1200),其中所述镜子系统(1204)包括第一镜子(104)和第二镜子(108),其中所述第一镜子(104)配置为将来自所述光源((302)、(1202))的光反射到所述样品((114)、(306)、(1206)),并且其中所述第二镜子(108)配置为将来自所述样品((114)、(306)、(1206))的光朝向所述检测器((110)、(220)、(1212))反射。 7.权利要求1-2中任一项所述的镜面可变角度绝对反射计(1200),进一步包括: 与所述镜子系统(1204)相关联的光阱(1218),所述光阱(1218)配置为截断随所述镜子系统(1204)的向前移动来自所述光源((302)、(1202))的光和当所述镜子系统(1204)从截断所述光缩回时从所述光源((302)、(1202))到所述检测器((110)、(220)、(1212))的直接路径;和 移动系统(1220),其连接到所述镜子系统(1204)并配置为移动所述镜子系统(1204)。 8.权利要求1-2中任一项所述的镜面可变角度绝对反射计(1200),其中所述角镜(1208)以围绕所述样品轴((101),(1211))的第一角度旋转,所述第一角度约为所述样品((114)、(306)、(1206))围绕所述样品轴((101)、(1211))旋转通过的角距离的两倍,或任选地,其中来自所述样品((114)、(306)、(1206))的第一反射和第二反射是重合的。 9.一种测量具有样品轴((101)、(1211))的样品((114)、(306)、(1206))的反射比的方法,所述方法包括: 从光源((302)、(1202))朝向镜子系统(1204)投射光束; 此后,从所述镜子系统(1204)朝向所述样品((114)、(306)、(1206))反射所述光束,所述样品((114)、(306)、(1206))围绕所述样品轴((101)、(1211))旋转第一角度; 此后,将来自所述样品((114)、(306)、(1206))的所述光束朝向角镜(1208)反射,所述角镜(1208)围绕所述样品轴((101)、(1211))旋转第二角度,所述第二角度约为所述第一角度的两倍; 此后,将来自所述角镜(1208)的所述光束反射回所述样品((114)、(306)、(1206)); 此后,将来自所述样品((114)、(306)、(1206))的所述光束反射回所述镜子系统(1204); 此后,将来自所述镜子系统(1204)的所述光束朝向检测器((110)、(220)、(1212))反射,从而生成修改的光束;和 基于由所述检测器((110)、(220)、(1212))检测到的所述修改的光束的光学特性,计算所述样品((114)、(306)、(1206))的反射比。 10.权利要求9所述的方法,进一步包括: 在计算之前,通过顺序地测量所述样品((114)、(306)、(1206))、所述光源((302)、(1202))的功率和背景误差来补偿光源((102)、(202)、(316))漂移和背景引入的误差。 11.权利要求9-10中任一项所述的方法,进一步包括: 限制测量的足迹为所述光束的直径除以所述样品((114)、(306)、(1206))上的所述光束的入射角的余弦,或者任选地将所述光束聚焦在所述检测器((110)、(220)、(1212))处以最大化信号并最小化对准临界性。 12.权利要求9-10中任一项所述的方法,进一步包括: 在投射之前,通过使用所述光源((302)、(1202))、镜子系统(1204)和检测器((110)、(220)、(1212))但没有所述样品((114)、(306)、(1206)),测量所述角镜(1208)的反射比来确定所述角镜(1208)的100%反射比水平。 13.权利要求12所述的方法,其中计算所述反射比包括计算所述样品((114)、(306)、(1206))的绝对反射比。 14.权利要求13所述的方法,其中在计算所述反射比中,所述样品((114)、(306)、(1206))的所述反射比与所述100%反射比的比率是所述样品((114)、(306)、(1206))的所述反射比的平方的绝对量度。 15.权利要求9-10中任一项所述的方法,进一步包括: 当所述镜子系统(1204)从截断所述光源((102)、(202)、(316)光束缩回时,用光阱(1218)截断从所述光源((302)、(1202))的输出,或任选地,通过使用在所述光源((302)、(1202))的输出处设置的斩波器从背景提取光源((102)、(202)、(316))信号。 |
所属类别: |
发明专利 |