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原文传递积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法

专利名称：	积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法
摘要：	本发明涉及光学领域，提供积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法。积分球开口处反射比测量方法，包括：S01、获取两个半径不同、内壁反射比相同的积分球的开口面积比；S02、采用光谱光度测量装置测量两个积分球的光谱相对信号；S03、确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的内壁反射比；S04、确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的开口处的反射比。该种积分球开口处反射比测量方法，通过对两个积分球的光谱相对信号分别进行测量，得到由两个积分球的光谱相对信号表示的开口处的反射比，其可以降低测量过程中对于积分球表面均匀度的要求，从而提高测量精度。
专利类型：	发明专利
申请人：	中国计量科学研究院
发明人：	马宇轩;冯国进;郑春弟;吴厚平;张巧香;赫英威;甘海勇
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T17:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T03:00:00+0805
申请号：	CN201911304782.7
公开号：	CN110954508A
代理机构：	北京路浩知识产权代理有限公司
代理人：	吴欢燕
分类号：	G01N21/47;G01N21/25;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/47;G01N21/25
申请人地址：	100029 北京市朝阳区北三环东路18号
主权项：	1.一种积分球开口处反射比测量方法，其特征在于，包括： S01、获取两个半径不同、内壁反射比相同的积分球的开口面积比，其中，开口面积比为积分球的开口处对应球冠面积与积分球实际内表面积之比； S02、采用光谱光度测量装置测量两个积分球的光谱相对信号； S03、基于两个积分球的光谱相对信号、开口面积比和内壁反射比之间的关系，确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的内壁反射比； S04、基于积分球开口处的反射比、内壁反射比和开口面积比的关系，确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的开口处的反射比。 2.根据权利要求1所述的积分球开口处反射比测量方法，其特征在于，所述S03中：基于公式：计算得到内壁反射比ρ；两个所述积分球包括第一积分球和第二积分球，为S02中采用光谱光度测量装置测量的第一积分球的光谱相对信号，f1为第一积分球的开口面积比，为S02中采用光谱光度测量装置测量的第二积分球的光谱相对信号，f2为第二积分球的开口面积比。 3.根据权利要求2所述的积分球开口处反射比测量方法，其特征在于，所述S04中：基于公式：计算得到第一积分球的开口处的反射比 4.根据权利要求2所述的积分球开口处反射比测量方法，其特征在于，所述S04中：基于公式：计算得到第二积分球的开口处的反射比 5.根据权利要求1至4中任意一项所述的积分球开口处反射比测量方法，其特征在于，所述S02中，两个所述积分球为第一积分球和第二积分球；采用带探测积分球的光谱光度测量装置测量第一积分球和第二积分球的光谱相对信号。 6.根据权利要求5所述的积分球开口处反射比测量方法，其特征在于，使得探测积分球的进光口、出光口和积分球的开口位于同一直线上，且使得第一积分球或第二积分球的开口处的反射光全部进入探测积分球；反射光在第一积分球或第二积分球中部分进入光谱光度测量装置的探测积分球的探测器。 7.一种漫反射比的绝对测量方法，其特征在于，包括：采用权利要求1至6中任意一项所述的测量方法测量积分球开口处的反射比；基于被测样品和积分球的比对，获取被测样品的漫反射比。 8.根据权利要求7所述的漫反射比的绝对测量方法，其特征在于，所述基于被测样品和积分球的比对，获取被测样品的漫反射比的步骤，包括：采用光谱光度测量装置测量被测样品的光谱相对信号；基于积分球的光谱相对信号与被测样品的光谱相对信号之间的比值，以及积分球的开口处的反射比与被测样品的漫反射比之间比值，确定被测样品的漫反射比。 9.根据权利要求8所述的漫反射比的绝对测量方法，其特征在于，所述基于积分球的光谱相对信号与被测样品的光谱相对信号之间的比值，以及积分球的开口处的反射比与被测样品的漫反射比之间比值，确定被测样品的漫反射比的步骤，包括：基于公式：计算被测样品的漫反射比或者，基于计算被测样品的漫反射比为采用光谱光度测量装置测量的被测样品的光谱相对信号，为第一积分球的光谱相对信号，为第一积分球的开口处的反射比，为第二积分球的光谱相对信号，为第二积分球的开口处的反射比。 10.根据权利要求8所述的漫反射比的绝对测量方法，其特征在于，所述采用光谱光度测量装置测量被测样品的光谱相对信号的步骤中，光谱光度测量装置为权利要求1至6中任意一项所述的光谱光度测量装置。
所属类别：	发明专利