专利名称: |
一种薄膜外观专用检测装置 |
摘要: |
本实用新型公开了一种薄膜外观专用检测装置,包括基座、偏光膜片、灯箱组和薄膜卷支架,所述基座的左侧内部设置有偏光膜片,且基座的左侧安装有灯箱组,所述灯箱组的外表面设置有透光孔,且灯箱组的外侧设置有第一转轴,并且第一转轴的外表面设置有遮光块,所述基座的右侧固定连接有支撑架,且支撑架的上端设置有第二转轴,并且第二转轴的外表面设置有连接块,所述连接块的上端内部设置有弹簧,且弹簧的外侧设置有卡块,所述支撑架的外侧固定连接有限位杆。该检测薄膜外观专用工具,通过遮光板调节灯箱组中不同灯光的照射效果,配合偏光膜片可更容易的检验各种隐性薄膜缺陷,提高了该装置的工作效率。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
邦凯控股集团有限公司 |
发明人: |
王星;刘山林 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-12-13T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-09-13T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201822093342.9 |
公开号: |
CN209387500U |
代理机构: |
上海助之鑫知识产权代理有限公司 |
代理人: |
王丽影 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
201507 上海市金山区漕泾镇亭卫公路3300号 |
主权项: |
1.一种薄膜外观专用检测装置,包括基座(1)、偏光膜片(2)、灯箱组(3)和薄膜卷支架(13),其特征在于:所述基座(1)的左侧内部设置有偏光膜片(2),且基座(1)的左侧安装有灯箱组(3),所述灯箱组(3)的外表面设置有透光孔(4),且灯箱组(3)的外侧设置有第一转轴(5),并且第一转轴(5)的外表面设置有遮光块(6),所述基座(1)的右侧固定连接有支撑架(7),且支撑架(7)的上端设置有第二转轴(8),并且第二转轴(8)的外表面设置有连接块(9),所述连接块(9)的上端内部设置有弹簧(10),且弹簧(10)的外侧设置有卡块(11),所述支撑架(7)的外侧固定连接有限位杆(12),所述薄膜卷支架(13)设置在基座(1)的外侧上端,所述限位杆(12)的内部设置有活动杆(14),且活动杆(14)的上端设置有连接轴(15),所述连接轴(15)的外表面设置有活动块(16),且活动块(16)的外侧设置有磁铁(17)。 2.根据权利要求1所述的一种薄膜外观专用检测装置,其特征在于:所述灯箱组(3)的外表面等角度分布有4个透光孔(4),且灯箱组(3)通过第一转轴(5)与遮光块(6)构成可转动结构。 3.根据权利要求1所述的一种薄膜外观专用检测装置,其特征在于:所述连接块(9)通过第二转轴(8)与支撑架(7)构成可转动结构,且连接块(9)的外侧下表面与活动杆(14)的上表面相贴合。 4.根据权利要求1所述的一种薄膜外观专用检测装置,其特征在于:所述卡块(11)为梯形结构,且卡块(11)通过弹簧(10)与连接块(9)构成伸缩结构,并且卡块(11)与薄膜卷支架(13)为卡合连接。 5.根据权利要求1所述的一种薄膜外观专用检测装置,其特征在于:所述活动杆(14)与限位杆(12)为滑动连接,且活动杆(14)与活动块(16)为转动连接。 6.根据权利要求1所述的一种薄膜外观专用检测装置,其特征在于:所述活动块(16)关于活动杆(14)的中心点对称设置有2个,且2个活动块(16)通过磁铁(17)构成磁性连接。 |
所属类别: |
实用新型 |