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原文传递芯片外观检测装置

专利名称：	芯片外观检测装置
摘要：	一种芯片外观检测装置，其包括：一检测平台、一分光镜、一第一光源及一图像感测元件。检测平台具有一可移动的中空平台，一具有多个发光二极管芯片的晶片置放于中空平台上。分光镜设置于检测平台的上方。第一光源设置于分光镜的一侧，第一光源所产生的第一光束投向分光镜，以产生一投向发光二极管芯片的上表面的第二光束，并且第二光束通过发光二极管芯片的上表面而被反射成一向上投射的第三光束。图像感测元件设置于分光镜的上方，以接收经过分光镜的第三光束，进而得到每一个发光二极管芯片的上表面的图像。本实用新型可免除人工作业及墨水浪费以使得制造成本降低及效率提高，更能使移除不良发光二极管芯片的工艺更为方便。
专利类型：	实用新型专利
国家地区组织代码：	中国;CN
申请人：	久元电子股份有限公司
发明人：	汪秉龙;陈桂标
专利状态：	有效
申请日期：	2010-05-14T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201020198548.9
公开号：	CN201724908U
代理机构：	隆天国际知识产权代理有限公司 72003
代理人：	郑小军;冯志云
分类号：	G01N21/88(2006.01)I
申请人地址：	中国台湾新竹市
主权项：	一种芯片外观检测装置，其用以检测一晶片上的不良发光二极管芯片的数量及位置，该晶片由多个发光二极管芯片所组成，且该晶片放置在一检测平台上进行检测，其特征在于，该芯片外观检测装置包括：一分光镜，其设置于该检测平台及该晶片的上方；一可随着所述发光二极管芯片的类型来调整发光波长的第一光源，其设置于该分光镜的一侧旁；一第二光源，其设置在该检测平台内及该晶片的下方；一滤光片，其设置于该分光镜的上方；一图像感测元件，其设置于该滤光片的上方；以及一用以计算出不良发光二极管芯片数据的计算装置，其电连接于该图像感测元件，其中该不良发光二极管芯片数据包括不良发光二极管芯片的数量及不良发光二极管芯片的位置。
所属类别：	实用新型