专利名称: |
显示面板的光学检测方法及设备 |
摘要: |
本发明公开了一种显示面板的光学检测方法及设备。显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面,光学检测方法包括:对第一表面进行拍摄得到第一表面图像,在拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧;对第二表面进行拍摄得到第二表面图像,在拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧;对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像,在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间,混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵;根据第一表面图像和第二表面图像,在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。本发明能够提高显示面板检测的检出率、降低过判率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
上海天马微电子有限公司 |
发明人: |
杨传武 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-06-21T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-09-27T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910543985.5 |
公开号: |
CN110286132A |
代理机构: |
北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) |
代理人: |
于淼 |
分类号: |
G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
201201 上海市浦东新区汇庆路888、889号 |
主权项: |
1.一种显示面板的光学检测方法,其特征在于,所述显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面,所述光学检测方法包括: 对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像,所述第一表面图像用于计算出所述第一表面的异物,其中,在拍摄时取像装置位于所述第一表面远离所述第二表面一侧; 对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像,所述第二表面图像用于计算出所述第二表面的异物,其中,在拍摄时取像装置位于所述第二表面远离所述第一表面一侧; 对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像,其中,在拍摄时所述显示面板位于取像装置和背光源之间,所述混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵; 在所述混合瑕疵图像中滤去异物区识别所述显示面板的内部瑕疵,包括:根据所述第一表面图像和所述第二表面图像,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。 2.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于,还包括:开启背光源,对所述显示面板进行拍摄得到定位图像,所述定位图像用于标定所述显示面板的表面异物位置,其中,在拍摄时所述背光源位于所述显示面板远离所述取像装置一侧; 在所述混合瑕疵图像中滤去异物区识别所述显示面板的内部瑕疵,进一步包括:根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述定位图像,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。 3.根据权利要求2所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 所述定位图像包括第一表面定位图像,在对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像之后,开启背光源,对所述显示面板进行拍摄得到所述第一表面定位图像。 4.根据权利要求3所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述定位图像,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵,包括: 根据所述第一表面定位图像识别出所述显示面板的显示区,在所述第一表面图像中确定所述显示区的位置并建立第一坐标系,确定所述第一表面的异物在所述第一坐标系中的位置坐标。 5.根据权利要求4所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 所述定位图像还包括第二表面定位图像,对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像,将所述混合瑕疵图像复用为所述第二表面定位图像; 根据所述第二表面定位图像识别所述显示面板的显示区,在所述第二表面图像中确定所述显示区的位置并建立第二坐标系,确定所述第二表面的异物在所述第二坐标系中的位置坐标。 6.根据权利要求5所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述定位图像,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵,包括: 根据所述第一表面图像和所述第二表面图像的对应关系,将所述第一表面的异物在所述第一坐标系中的位置坐标换算成在所述第二坐标系中的位置坐标,得到所述第一表面的异物在所述第二坐标系中的等效位置坐标; 根据所述第二表面的异物在所述第二坐标系中的位置坐标和所述第一表面的异物在所述第二坐标系中的等效位置坐标,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。 7.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像之前,包括:将所述显示面板置于检测平台上,取像装置位于所述第一表面远离所述第二表面一侧; 对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像,包括:开启侧面光源,取像装置拍摄所述第一表面得到第一表面图像,其中,所述侧面光源位于所述检测平台靠近所述取像装置一侧,且位于所述检测平台的周边侧。 8.根据权利要求7所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像之前,还包括:对所述显示面板进行翻转后将所述显示面板置于检测平台上,取像装置位于所述第二表面远离所述第一表面一侧; 对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像,包括:开启所述侧面光源,取像装置拍摄所述第二表面得到第二表面图像。 9.根据权利要求8所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 对所述显示面板进行翻转后,在将所述显示面板置于检测平台上之前,还包括: 对背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像,所述背光表面图像用于计算出所述背光源表面的异物; 在所述混合瑕疵图像中滤去异物区识别所述显示面板的内部瑕疵,进一步包括:根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述背光表面图像,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物、所述第二表面的异物和所述背光光源表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。 10.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像包括:同时开启背光源和图像发生器,对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。 11.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法,其特征在于, 对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像,还包括:取像装置固定在第一位置对所述第一表面进行拍摄得到所述第一表面图像; 对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像,还包括:取像装置固定在所述第一位置对所述第二表面进行拍摄得到所述第二表面图像; 对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像,还包括:取像装置固定在所述第一位置对所述显示面板进行拍摄得到所述混合瑕疵图像。 12.一种设备,其特征在于,包括:检测平台、取像装置、背光源、侧面光源、图像发生器和处理装置; 所述检测平台,设置于所述取像装置和所述背光源之间,所述检测平台用于放置待检测的显示面板; 所述图像发生器与所述显示面板电连接,用于控制所述显示面板的显示; 所述取像装置,用于拍摄图像,所述显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面,所述取像装置用于拍摄第一表面图像,在拍摄所述第一表面图像时所述取像装置位于所述第一表面远离所述第二表面一侧,所述取像装置还用于拍摄第二表面图像,在拍摄所述第二表面图像时所述取像装置位于所述第二表面远离所述第一表面一侧,所述取像装置还用于拍摄混合瑕疵图像,所述混合瑕疵图像为对所述显示面板进行拍摄得到的图像,所述混合瑕疵图像的瑕疵包括表面异物、内部瑕疵; 所述侧面光源,设置于所述检测平台靠近所述取像装置一侧,且位于所述检测平台的周边侧; 所述处理装置与所述取像装置电连接,用于对拍摄的所述图像进行分析处理,包括根据所述第一表面图像和所述第二表面图像,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。 13.根据权利要求12所述的设备,其特征在于, 在拍摄所述第一表面图像和拍摄所述第二表面图像时,所述侧面光源开启,所述图像发生器关闭; 在拍摄所述混合瑕疵图像时,所述背光源和所述图像发生器均开启。 14.根据权利要求12所述的设备,其特征在于, 所述取像装置固定在第一位置对所述第一表面进行拍摄得到所述第一表面图像; 所述取像装置固定在所述第一位置对所述第二表面进行拍摄得到所述第二表面图像; 所述取像装置固定在所述第一位置对所述显示面板进行拍摄得到所述混合瑕疵图像。 15.根据权利要求12所述的设备,其特征在于, 所述取像装置还用于对所述背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像;在拍摄完所述第一表面图像后,对所述显示面板进行翻转,用于拍摄所述第二表面图像,其中,在对所述显示面板进行翻转后,在将所述显示面板置于检测平台上之前拍摄所述背光表面图像,此时所述显示面板与所述背光源不重叠; 所述处理装置还用于根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述背光表面图像,在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物、所述第二表面的异物和所述背光源表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。 |
所属类别: |
发明专利 |