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原文传递用于检测面板斑纹的光学检测系统及光学检测方法

专利名称：	用于检测面板斑纹的光学检测系统及光学检测方法
摘要：	本发明提供一种面板斑纹的光学检测系统，用以检测待测面板的斑纹瑕疵(Mura)，该光学检测系统包括一白光辅助灯、一摄影机、以及一处理器。该白光辅助灯设置于检测区域的一侧。该白光辅助灯提供一白光光源至该待测面板上。该摄影机设置于该检测区域的一侧，用以拍摄该检测区域上的该待测面板，以获得红色、绿色或蓝色成分的面板影像。该处理器连接至该摄影机。该处理器借助该摄影机获取该待测面板的多个该面板影像，并依据多个该面板影像获得该待测面板的斑纹瑕疵(Mura)。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	中国台湾;71
申请人：	由田新技股份有限公司
发明人：	邹嘉骏;叶丁源;林宥丞
专利状态：	有效
申请日期：	2018-04-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-17T00:00:00+0800
申请号：	CN201810360462.2
公开号：	CN110243829A
代理机构：	北京维澳专利代理有限公司
代理人：	王立民;张应
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1
主权项：	1.一种用于检测面板斑纹的光学检测系统，用以检测待测面板的斑纹瑕疵，其特征在于：该光学检测系统包括：一白光辅助灯，设置于检测区域的一侧，该白光辅助灯提供一白光光源至该待测面板上；一摄影机，设置于该检测区域的一侧，用以拍摄该检测区域上的该待测面板，以获得红色、绿色或蓝色成分的面板影像；以及一处理器，连接至该摄影机，该处理器借助该摄影机上获取该待测面板的多个该面板影像，并依据多个该面板影像获得该待测面板的斑纹瑕疵。 2.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：该摄影机为偏振光摄影机或全彩摄影机。 3.根据权利要求2所述的光学检测系统，其特征在于：该偏振光摄影机为线性偏振光摄影机或面偏振光摄影机。 4.根据权利要求3所述的光学检测系统，其特征在于：该处理器切换偏振片角度以分别获得红光、绿光、蓝光影像、或混合光的面板影像。 5.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：该白光辅助灯为侧向灯、背光灯、或环形灯。 6.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：该白光辅助灯与该检测区域之间设置有一切换式偏振片，该处理器切换该切换式偏振片的角度，以输出对应的光源。 7.一种用于检测面板斑纹的光学检测方法，其特征在于：包括：提供一白光光源，设置于检测区域的一侧，以照射至待测面板上；提供一摄影机，设置于该检测区域一侧，用以拍摄该检测区域上的该待测面板，以获得红色、绿色或蓝色成分的面板影像；通过该摄影机获取该待测面板的多个该面板影像；以及依据多个该面板影像获得该待测面板的斑纹瑕疵。 8.根据权利要求7所述的光学检测方法，其特征在于：提供该摄影机为提供偏振光摄影机或全彩摄影机。 9.根据权利要求8所述的光学检测方法，其特征在于：通过该摄影机获取该待测面板的多个该面板影像的步骤包括：通过切换偏振片角度以分别获得红光、绿光、蓝光影像、或混合光的面板影像。 10.根据权利要求8所述的光学检测方法，其特征在于：还包括：依据多个该面板影像个别进行定量化分析；以及依据该定量化分析的结果确认该待侧面板个别位置的相对偏振角度变化。 11.根据权利要求8所述的光学检测方法，其特征在于：还包括：依据多个该面板影像个别获取该面板影像中的条纹密度分布；以及依据该条纹密度分布确认该待测面板内部残留应力分布。 12.根据权利要求7所述的光学检测方法，包括：提供一切换式偏振片至该白光辅助灯与该检测区域之间；以及对应该摄影机上的偏振片切换该切换式偏振片的角度，以输出对应的光源至该待测面板。
所属类别：	发明专利