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原文传递用于管道的反向散射X射线检查系统

专利名称：	用于管道的反向散射X射线检查系统
摘要：	本公开涉及用于管道的反向散射X射线检查系统。具体地涉及一种用于扫描细长结构的方法和系统。接收对细长结构的扫描，在细长结构的腔室中含有流体。该扫描由扫描器使用x射线束而生成。对该扫描中的数据进行滤波，以移除该扫描中的所据中因流体而得到的部分，以形成滤波后数据，使得能够在滤波后数据中检测细长结构的壁上的不一致。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	波音公司
发明人：	M·萨法伊;G·E·乔治森
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-11T00:00:00+0800
申请号：	CN201910237110.2
公开号：	CN110320222A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司
代理人：	黄纶伟;李辉
分类号：	G01N23/20008(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	美国伊利诺伊州
主权项：	1.一种扫描系统(104)，所述扫描系统(104)包括：扫描器(112)，所述扫描器(112)被配置为发射x射线束(118)；以及控制器(114)，所述控制器(114)与所述扫描器(112)进行通信，其中，所述控制器(114)被配置为控制所述扫描器(112)以对具有含流体(108)的腔室(122)的细长结构(102)进行扫描(116)，并且对所述扫描(116)中的数据(124)进行滤波，以移除所述扫描(116)中的数据(124)中因所述流体(108)而得到的部分，形成滤波后数据(126)，使得能够在所述滤波后数据(126)中检测所述细长结构(102)的壁上的不一致(110)。 2.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，其中，所述扫描器(112)还包括以下中的至少一项： x射线源(300)，所述x射线源(300)被配置为发射所述x射线束(118)；以及传感器系统(304)，所述传感器系统(304)被配置为检测所述x射线束(118)遇到所述细长结构(102)而引起的反向散射(314)；偏振网格(518)，所述偏振网格(518)使所述反向散射(314)中在大体上垂直于所述偏振网格(518)的方向上传播的x射线通过，其中，所述反向散射(314)中的所述x射线是所述x射线束(118)遇到所述细长结构(102)而引起的；以及遮罩(520)，所述遮罩(520)被配置为减少所述反向散射(314)，其中，所述细长结构(102)位于所述x射线源(300)与所述遮罩(520)之间。 3.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，其中，所述控制器(114)执行以下中的至少一项：对所述数据(124)进行滤波，以移除与背景噪声关联的强度。 4.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，其中，所述扫描(116)中的数据(124)包括表示由所述扫描器(112)检测到的所述x射线束(118)的反向散射(314)的强度的像素，其中，所述强度与所述反向散射(314)的能量对应，并且其中，所述控制器(114)对所述数据(124)进行滤波，以移除与所述流体(108)关联的强度。 5.根据权利要求4所述的扫描系统(104)，其中，所述控制器(114)选择包含所述不一致(110)的强度组，并且使用所述强度组对所述数据(124)进行滤波，以使针对所述不一致(110)的数据(124)通过，以及其中，使用针对所述不一致(110)的标准来选择所述强度组。 6.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，其中，所述控制器(114)使用高通滤波器、低通滤波器和带通滤波器中的至少一种来对所述数据(124)进行滤波。 7.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，所述扫描系统(104)还包括：转移结构(130)，所述转移结构(130)被配置为在所述细长结构(102)上以轴向方式和旋转方式中的至少一种方式来移动，其中，所述转移结构(130)选自如下中的一种：机动臂、履带臂和基于轨迹的臂。 8.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，其中，所述扫描器(112)由如下中的至少一种组成：x射线扫描系统、反向散射x射线系统和透射x射线系统。 9.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，其中，所述细长结构(102)选自如下中的一种：管道(106)、绝缘管道、非绝缘管道、滚筒、燃料箱和导管。 10.根据权利要求1所述的扫描系统(104)，其中，所述不一致(110)选自如下中的至少一种：裂缝、腐蚀、氧化、层裂、分层和空隙。 11.一种用于扫描细长结构(102)的方法，所述方法包括如下步骤：接收对所述细长结构(102)的扫描(116)，在所述细长结构(102)的腔室(122)中含有流体(108)，其中，所述扫描(116)由扫描器(112)使用x射线束(118)来生成；以及对所述扫描(116)中的数据(124)进行滤波，以移除所述扫描(116)中的数据(124)中因所述流体(108)而得到的部分，形成滤波后数据(126)，使得能够在所述滤波后数据(126)中检测所述细长结构(102)的壁上的不一致(110)。 12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述扫描(116)中的数据(124)包括表示由所述扫描器(112)检测到的所述x射线束(118)的反向散射(314)的强度的像素，其中，所述强度与所述反向散射(314)的频率对应，并且其中，滤波的步骤包括：对所述扫描(116)中的数据(124)进行滤波，以移除与所述流体(108)关联的强度，形成滤波后数据(126)。 13.根据权利要求12所述的方法，其中，滤波的步骤还包括以下中的至少一个：选择包含所述不一致(110)的强度组，并且使用所述强度组对所述数据(124)进行滤波，以使针对所述不一致(110)的数据(124)通过，以及使用高通滤波器、低通滤波器和带通滤波器中的至少一种来对所述扫描(116)中的数据(124)进行滤波，以移除所述扫描(116)中的数据(124)中因所述流体(108)而得到的部分，以形成滤波后数据(126)，使得能够检测所述细长结构(102)的壁上的不一致(110)。 14.根据权利要求13所述的方法，其中，选择的步骤包括：使用针对所述不一致(110)的标准来选择包含所述不一致(110)的强度组。 15.根据权利要求11所述的方法，所述方法还包括如下步骤：使反向散射(314)中在大体上垂直于偏振网格(518)的方向上传播的x射线通过所述偏振网格(518)，其中，所述反向散射(314)中的x射线是所述x射线束(118)遇到所述细长结构(102)而引起的。
所属类别：	发明专利