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原文传递 X射线荧光光谱仪检测生铁中砷、锡元素含量的方法

专利名称：	X射线荧光光谱仪检测生铁中砷、锡元素含量的方法
摘要：	本发明公开了一种X荧光光谱仪检测生铁中砷、锡元素含量的分析方法。该方法包括对在高炉出铁取得的生铁试样块，其外观为圆台状，高35‑55mm、上表面直径28‑32mm、下表面直径38‑42mm，用切割机从中间切断，将其中小头的一段试样经砂轮机抛光磨制后，得到与制作标准曲线的标准样品表面基准一致的待检测生铁样品；利用OXSAS软件绘制砷、锡元素校准工作曲线，对待检测生铁样品进行砷、锡元素含量的检测分析。该方法制样快速，代表性强，检测结果准确度、精密度高，适合现场快速分析的需求。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	内蒙古;15
申请人：	包头钢铁(集团)有限责任公司
发明人：	周景涛;田芳;薛玉芳;王丽艳;李强;关剑侠
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-08T00:00:00+0800
申请号：	CN201910672804.9
公开号：	CN110426408A
代理机构：	北京律远专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	全成哲
分类号：	G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	014010 内蒙古自治区包头市昆区河西工业区
主权项：	1.一种X射线荧光光谱仪检测生铁中砷、锡元素含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，将高炉出铁取得的圆台形生铁试样进行切割，得到上表面半径较小的圆台状生铁A和上表面半径较大的圆台状生铁B；步骤二，对圆台状生铁A的切割面进行研磨铣削作为分析面，得到待检测生铁样品；步骤三，采用X射线荧光光谱仪在设定好的荧光仪测量条件下，测试多个能够覆盖待检测生铁样品中砷、锡元素含量范围的有证标准生铁样品，应用OXSAS软件，绘制测量的强度值与标准值的校准工作曲线，线性相关系数满足分析要求；步骤四，按照步骤三的荧光仪测量条件，利用X射线荧光光谱仪对待检测生铁样品进行砷、锡元素含量的检测。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在步骤一中，所述圆台形生铁试样的高为35mm-55mm，上下表面直径分别为28-32mm和38-42mm；优选的，所述圆台形生铁其中试样的高为35mm，上下表面直径分别为30mm和40mm。 3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：在步骤一中，所述圆台形生铁试样的切割位置在距该试样上表面的1/2～2/3处。 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在步骤二中，采用磨样机和/或砂轮机对圆台状生铁A的切割面进行研磨铣削作为分析面。 5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述分析面平整、无污染、无水痕、无砂眼、无裂纹，且表面纹理一致，待检测生铁样品厚度≥6mm；所述标准生铁样品与待检测生铁样品采用的基准一致。 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在步骤三中，所述荧光仪测量条件为：谱线Ka1,2；管电压50KV；管电流50mA；探测器SC；晶体LiF200；2θ角砷元素为33.998°，锡元素为14.039°。 7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在步骤三中，在X射线荧光光谱仪OXSAS分析软件上建立生铁中砷、锡分析程序，利用9个标准样品建立工作曲线，经过曲线拟合，控制标样校核，得到校准工作曲线，线性相关系数R2≥0.99。 8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于：根据所述校准工作曲线，确定砷、锡元素的检测范围：砷元素的检测范围0.0017％-0.044％，锡元素的检测范围0.0018％-0.134％。 9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在步骤四中，利用X射线荧光光谱仪检测待检测生铁样品中As、Sn元素的强度值，根据绘制的校准工作曲线，采用OXSAS分析软件程序自动计算得到砷、锡元素的含量。
所属类别：	发明专利