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一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法
| 专利名称： | 一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，本发明X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法；首先能量色散X射线荧光光谱法的检测时间非常短，从几秒到几十秒，若有准确结果，一般设定在30‑60秒即可；可做到全部饰品的检测，随检随走，无需等待，对饰品没有任何损伤。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津市博智伟业科技股份有限公司 |
| 发明人： | 张磊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201711032750.7 |
| 公开号： | CN107782754A |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 300000 天津市河西区友谊南路涟水园1号楼2门201号 |
| 主权项： | 一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，其特征在于：包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，且主放大器的输出端与多道分析器的输入端电性连接；所述多道分析器的输出端与智能缓冲器的输入端电性连接，且智能缓冲器的输出端与计算机的输入端电性连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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