原文传递
一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法
| 专利名称： | 一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，包括如下步骤：步骤一：根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例；步骤二：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行溶样处理；步骤三：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。本发明改变了X射线荧光分析的传统观念，对硅溶胶液体样品采用高温熔融的方法把液体样品转化成固体样品进行测试，可以实现对硅溶胶液体样品中钠硅等轻元素的准确分析,并可以推广到其它液体样品的测试。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海精谱科技有限公司 |
| 发明人： | 苏建平;郭晓明;乔文韬 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-02-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910147521.2 |
| 公开号： | CN109738472A |
| 代理机构： | 上海天翔知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 吕伴 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 201806 上海市嘉定区西冈身路569号 |
| 主权项： | 1.一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤一：根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例； 步骤二：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行熔样处理，制得玻璃熔片； 步骤三：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。 2.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述轻元素包括钠、镁、铝、硅中的任意一种或多种。 3.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述固体熔剂是四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂，按重量百分比计算，所述四硼酸锂和偏硼酸锂的比为66-68％：32-34％。 4.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述样品与固体熔剂的比例为0.9-1.1:1.1-0.9。 5.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述熔样温度为1000℃-1100℃，所述熔样时间为15-25分钟。 6.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述脱模剂的种类及数量为45-55％的碘化氨溶液8-12滴。 7.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述的X射线荧光测试条件为：管压：9-11kv,管流：500-700uA,真空环境，无滤光片，测试时间180-220秒。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
