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一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法
| 专利名称： | 一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：把待测样品研磨到200目以上，保证熔片样品的彻底熔解及不开裂；步骤二：根据锂长石中待测元素的含量确定样品与熔剂的比例；步骤三：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行溶样处理，制得玻璃溶片；步骤四：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其含量指标。本发明的重复性和再现性均优于传统的化学方法，更便于操作。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海精谱科技有限公司 |
| 发明人： | 苏建平;郭晓明;乔文韬 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-02-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910146813.4 |
| 公开号： | CN109738471A |
| 代理机构： | 上海天翔知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 吕伴 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 201806 上海市嘉定区西冈身路569号 |
| 主权项： | 1.一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤一：把待测样品研磨到200目以上，保证熔片样品的彻底熔解及不开裂； 步骤二：根据锂长石中待测元素的含量确定样品与熔剂的比例； 步骤三：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行熔样处理，制得玻璃熔片； 步骤四：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其含量指标。 2.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，所述无机元素包括：铁、铝、钾、钠、硅中的任意一种或多种。 3.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，所述固体熔剂是四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂，按重量百分比计算，所述四硼酸锂和偏硼酸锂的比为66-68％：32-34％。 4.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，所述样品与固体熔剂的比例为0.9-1.1:9-11。 5.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，所述熔样温度为1000℃-1100℃，所述熔样时间为10-14分钟。 6.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，所述脱模剂的种类及数量为45-55％的碘化氨溶液3-7滴。 7.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定锂长石中无机元素的方法，其特征在于，所述的X射线荧光测试条件为：管压：9-11kv,管流：200-400uA,真空环境，无滤光片或钼滤光片，测试时间为90-110秒。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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