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基于X射线荧光光谱分析合金钢中Ta元素的测定方法
| 专利名称： | 基于X射线荧光光谱分析合金钢中Ta元素的测定方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱分析对合金钢中Ta元素的测定方法，包括步骤①仪器测量条件，②样品的制备，③标准样品的选择，④绘制工作曲线，⑤选取分析样品和湿法定值的标准样品进行准确度与精密度测定。本发明的有益效果是：准确而快速的测定低合金钢中Ta元素含量；且操作简单。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津钢管制造有限公司 |
| 发明人： | 韩春梅;周冠男;车凤华;王立群;王国备;庞运梁;于秀立 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-07-16T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-12T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910641352.8 |
| 公开号： | CN110441340A |
| 代理机构： | 天津才智专利商标代理有限公司 |
| 代理人： | 吕志英 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 300301天津市东丽区津塘公路396号 |
| 主权项： | 1.一种基于X射线荧光光谱分析对合金钢中Ta元素的测定方法，该方法包括有以下步骤： ①设定仪器测量条件 采用MAX型X射线荧光光谱仪，其中：功率4Kw，电压30Kv，电流110mA；Ta元素选择KA线系，准直器选择300um，滤光片选择brass铜滤光片，晶体为LiF200,探测器选择闪烁探测器Scint，电压用60Kv的工作条件，准直器选择300um，无滤光片，晶体为LiF200,探测器选择流量探测器Flow，电压用30Kv的工作条件， ②样品的制备 分析试样磨制要平，无缩孔、裂纹、沙眼，磨样纹路要一致； ③标准样品的选择 购买有Ta元素定值的样品作为标准样品，标样元素含量要有标准化学分析结果，含量分布均匀，没有偏析现象，无缩孔、无夹杂； ④绘制工作曲线 采用步骤③的工作条件，依次用X荧光仪测定荧光强度，Ta元素的含量在证书中给出，以测定的五个标准样品的荧光强度为横坐标，以五个标准样品的Ta含量为纵坐标，绘制工作曲线。 ⑤选取标准样品进行准确度与精密度测定 准确度实验：选取若干个样品采用本发明的方法进行X荧光分析，测得Ta元素含量，比对标准值，当结果非常接近，则满足标准分析要求； 精密度实验：选取标准样品并分别进行X荧光分析测量10次实验数据，Ta元素的标准偏差都在较小的范围内时，说明本分析方法整个过程稳定可靠。 2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析对合金钢中Ta元素的测定方法，其特征是：步骤②所述分析试样直径不得小于12mm，试样厚度大于2mm。 3.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析对合金钢中Ta元素的测定方法，其特征是：步骤④所述工作曲线图的横坐标取五个标准样品的荧光强度，纵坐标取五个标准样品的Ta含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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