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原文传递一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统

专利名称：	一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统
摘要：	本发明涉及一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，包括检测装置，所述检测装置包括底座、镜架、镜筒和平台，还包括调节机构和固定机构，所述调节机构包括安装轴承、旋钮、传动轴和定位组件，所述固定机构包括固定板、柱形凹口、第二管道、第一管道、阀门、动力组件、升降块、两个滑杆、两个支架和两个吸盘，所述定位组件包括连接套管、连接杆、弹簧和摩擦块，所述动力组件包括丝杆和转盘，该便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统中，通过调节机构可以驱动平台翻转，使芯片在重力的作用下从平台上脱落，提高了显微镜使用的便捷度，通过固定机构可以将显微镜固定在桌面上，降低了显微镜发生晃动的几率，提高了显微镜的实用性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	黄娉
发明人：	黄娉
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-05T00:00:00+0800
申请号：	CN201910665692.4
公开号：	CN110411942A
分类号：	G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518000 广东省深圳市福田区桂花路加福广场
主权项：	1.一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，包括检测装置，所述检测装置包括底座(4)、镜架(1)、镜筒(5)和平台(6)，所述底座(4)的形状为圆柱形，所述镜筒(5)通过镜架(1)与底座(4)连接，所述平台(6)与底座(4)的轴线垂直，所述平台(6)设置在底座(4)与镜筒(5)之间，其特征在于，还包括调节机构和固定机构，所述平台(6)通过调节机构与镜架(1)连接，所述固定机构设置底座(4)上；所述调节机构包括安装轴承(2)、旋钮(3)、传动轴(20)和定位组件，所述传动轴(20)的轴线与底座(4)的轴线垂直且相交，所述传动轴(20)的中部通过安装轴承(2)与镜架(1)连接，所述传动轴(20)的一端与平台(6)固定连接，所述旋钮(3)与传动轴(20)的另一端固定连接，所定位组件设置在镜架(1)上，所述定位组件与传动轴(20)连接；所述固定机构包括固定板(14)、柱形凹口(22)、第二管道(21)、第一管道(11)、阀门(8)、动力组件、升降块(15)、两个滑杆(10)、两个支架(13)和两个吸盘(12)，所述柱形凹口(22)与底座(4)同轴设置，所述柱形凹口(22)设置在底座(4)的远离镜架(1)的一侧，所述滑杆(10)与底座(4)的轴线平行，两个滑杆(10)的一端均与柱形凹口(22)的靠近支架(13)的一侧的内壁固定连接，两个滑杆(10)的另一端均与固定板(14)固定连接，所述动力组件设置在两个滑杆(10)之间，所述升降块(15)的内部设有连接孔，两个滑杆(10)均穿过升降块(15)，所述升降块(15)与滑杆(10)滑动连接，所述动力组件与升降块(15)连接，两个吸盘(12)分别设置在固定板(14)的两侧，两个吸盘(12)均通过支架(13)与升降块(15)固定连接，所述第二管道(21)的两端分别与两个吸盘(12)连接，所述第一管道(11)的一端与第二管道(21)的中部连通，所述底座(4)的靠近平台(6)的一侧设有贯穿孔，所述第一管道(11)穿过贯穿孔，所述第一管道(11)与贯穿孔密封连接，所述阀门(8)安装在第一管道(11)的另一端上。 2.如权利要求1所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述定位组件包括连接套管(18)、连接杆(16)、弹簧(17)和摩擦块(19)，所述连接套管(18)的轴线与传动轴(20)的轴线垂直且相交，所述连接套管(18)与镜架(1)固定连接，所述连接轴与连接套管(18)同轴设置，所述连接轴穿过连接套管(18)，所述连接轴与连接套管(18)滑动连接，所述摩擦块(19)与连接轴的靠近传动轴(20)的一端固定连接，所述摩擦块(19)与传动轴(20)抵靠，所述弹簧(17)套设在连接杆(16)上，所述连接杆(16)的远离传动轴(20)的一端通过弹簧(17)与连接套管(18)固定连接，所述弹簧(17)处于拉伸状态。 3.如权利要求1所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述动力组件包括丝杆(9)和转盘(7)，所述丝杆(9)与底座(4)同轴设置，所述丝杆(9)的两端均设有安装轴承(2)，所述丝杆(9)的两端均通过安装轴承(2)分别与固定板(14)和柱形凹口(22)的内壁连接，所述底座(4)的靠近平台(6)的一侧的中心处设有孔洞，所述丝杆(9)穿过孔洞，所述转盘(7)安装在丝杆(9)的靠近平台(6)的一端上。 4.如权利要求3所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述丝杆(9)上涂有润滑脂。 5.如权利要求3所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述转盘(7)上设有防滑纹。 6.如权利要求1所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述底座(4)上设有防腐涂层。 7.如权利要求1所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述平台(6)的靠近镜筒(5)的一侧设有防滑垫。 8.如权利要求2所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述摩擦块(19)的制作材料为橡胶。 9.如权利要求2所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述连接杆(16)的远离传动轴(20)的一端上设有限位块。 10.如权利要求1所述的便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，其特征在于，所述镜筒(5)的靠近平台(6)的一端的两侧均设有补光灯。
所属类别：	发明专利