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原文传递涂层测定

专利名称：	涂层测定
摘要：	公开了一种在涂层测试系统(8)中执行的、用于自动测定涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：将光谱仪探针(10)定位在物体(线10)附近，所述物体包括聚合物涂层；使用所述探针获取所述聚合物涂层的光谱；以及对所获取的光谱执行化学计量分析，以便测量所述聚合物涂层的所述聚合。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	英国;GB
申请人：	阿斯特罗普有限公司
发明人：	V·菲利波;T·弗朗西斯科;D·皮埃罗;C·维塔列
专利状态：	有效
申请日期：	2018-03-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-08T00:00:00+0800
申请号：	CN201880019112.8
公开号：	CN110431403A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司
代理人：	付林;王小东
分类号：	G01N21/84(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	英国伦敦
主权项：	1.一种在涂层测试系统中执行的、用于自动测定涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：将光谱仪探针定位在物体附近，所述物体包括聚合物涂层；使用所述探针获取所述聚合物涂层的光谱；以及对所获取的光谱执行化学计量分析，以便测量所述聚合物涂层的所述聚合。 2.根据权利要求1所述的方法，该方法还包括在涂布过程中用聚合物涂布所述物体。 3.根据权利要求2所述的方法，所述方法还包括馈送所述物体通过所述涂层测试系统，该涂层测试系统既执行所述涂布过程又执行所述聚合物涂层的聚合的所述测量。 4.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，所述光谱使用近红外光谱法即NIR来获取。 5.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，所述物体是线材。 6.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，所述光谱仪探针维持在距所述物体固定的距离处，使得所述光谱仪探针不接触所述物体，并且相对于所述物体处于固定方位。 7.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，所述方法还包括对所获取的光谱施加信号预处理。 8.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，所述化学计量分析包括将获取的光谱投影到相关模型。 9.根据权利要求2至8中任意一项所述的方法，该方法还包括根据所测得的聚合，自动生成用于大致实时控制所述涂布过程的数据。 10.根据权利要求9所述的方法，该方法还包括：在视觉显示器上自动显示用于大致实时地控制所述涂布过程的、自动生成的数据。 11.根据权利要求9至10中任意一项所述的方法，该方法还包括：使用自动生成的数据在反馈回路中控制所述涂布过程，使得自动调整所述涂布过程。 12.一种用于创建相关模型以自动测定涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：使用光谱法获取多个涂层材料的光谱；对所获取的光谱施加信号预处理；使用经预处理的光谱来创建相关模型，其中，所述相关模型将所述光谱与所述涂层材料的所述聚合相关联。 13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述相关模型使用验证光谱来验证。 14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述相关模型使用化学计量分析来创建。 15.根据权利要求12至14中任意一项所述的方法，其中，所述物体是线材。 16.根据除了权利要求5或15之外的任一前述权利要求所述的方法，其中，所述物体是光导纤维、同轴光纤或涂有聚合物的表面中的任意一者。 17.一种用于自动测定涂敷于物体的聚合物涂层的聚合的设备，所述设备包括：光谱仪探针，在使用时，该光谱仪探针定位成与所述物体相邻，其中，所述探针被构造为获取用于实时地自动测定所述聚合物涂层的所述聚合的光谱；以及探针座，在使用时，该探针座将所述探针保持为与所述物体相邻，使得在使用时，所述探针测量所述聚合物涂层的所述聚合。 18.根据权利要求17所述的设备，该设备被构造为执行权利要求1至16中任意一项所述的方法。 19.一种用于将光谱仪探针定位成与线材相邻的设备，其中，所述探针被构造为获取用于实时地自动测定线材涂层材料的聚合的光谱，所述设备包括：通道，该通道用于接纳被涂布的线材；探针座，该探针座用于将所述探针保持为与所述通道相邻，使得在使用时，所述探针测量聚合物涂层的所述聚合，并且根据测得的聚合自动生成用于大致实时控制线材涂布过程的数据。 20.根据权利要求19所述的设备，其中，所述通道包括第一端和第二端，在所述第一端处，所述线材插入到所述设备中，在所述第二端处，所述线材离开所述设备。 21.根据权利要求20所述的设备，该设备还包括位于所述通道的所述第一端与所述通道的所述第二端之间的第一组滑轮。 22.根据权利要求21所述的设备，该设备还包括位于所述第一组滑轮与所述通道的所述第二端之间的第二组滑轮。 23.根据权利要求22所述的设备，该设备还包括位于所述通道的所述第一端处的第三组滑轮以及位于所述通道的所述第二端处的第四组滑轮。 24.根据权利要求23所述的设备，其中，所述第三组滑轮和第四组滑轮垂直于所述第一组滑轮布置，使得所述第三组滑轮和第四组滑轮的旋转轴线垂直于所述第一组滑轮的旋转轴线。 25.根据权利要求22至24所述的设备，其中，所述第一组滑轮被布置为与所述第二组滑轮同轴，使得所述第一组滑轮和所述第二组滑轮的所述旋转轴线彼此同轴。 26.根据权利要求21或25所述的设备，其中，各组滑轮包括第一滑轮和第二滑轮，所述第二滑轮布置在偏置构件上以使所述第二滑轮相对于所述第一滑轮移动，使得所述设备能够接纳具有一系列厚度的被涂布的线材。 27.根据权利要求23至26中任意一项所述的设备，其中，所述滑轮包括用于接纳被涂布的线材的凹槽。 28.根据权利要求19至27中任意一项所述的设备，其中，所述设备包括平台，该平台布置在所述通道上方，所述探针座被容纳在所述平台上。 29.根据权利要求28所述的设备，其中，所述平台包括调整机构，所述调整机构用于移动所述探针座以调整所述光谱仪探针相对于所述通道的位置。 30.根据权利要求29所述的设备，其中，所述调整机构包括螺纹螺钉。 31.根据权利要求19至30所述的设备，其中，所述探针座包括多个孔，用于接纳所述光谱仪探针。 32.根据权利要求31所述的设备，其中，每个所述孔以相对于彼此不同的角度布置，以允许所述光谱仪探针相对于所述通道位于一系列角度处。 33.根据权利要求32所述的设备，其中，具有相对于所述通道定向在90°、85°和80°处的三个孔。 34.根据权利要求19至33中任意一项所述的设备，该设备还包括壳体，该壳体围绕所述通道。 35.根据权利要求34所述的设备，其中，所述壳体包括用于接纳所述探针座的切掉部分。 36.根据权利要求35所述的设备，其中，所述壳体包括附件，以将所述探针座牢固地附接到所述壳体。 37.根据权利要求19至36所述的设备，其中，所述光谱仪探针是NIR探针。 38.一种用于自动地控制线材涂层材料的聚合的线材涂布系统，该系统包括：根据权利要求19至37中任意一项所述的设备；线材涂布设备；光谱仪探针；光谱仪，该光谱仪包括：计算单元；和操作者界面；和线材。 39.根据权利要求38所述的系统，该系统被构造为执行根据权利要求1至11中任意一项所述的方法。 40.一种用于自动控制涂层材料的聚合的物体涂布系统，该系统包括：根据权利要求17所述的设备；涂布设备；光谱仪探针；光谱仪，该光谱仪包括：计算单元；和操作者界面；和物体。 41.根据权利要求40所述的系统，该系统被构造为执行根据权利要求1至11中任意一项所述的方法。 42.一种在线材涂布系统中执行的、用于自动控制线材涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：在线材涂布过程中用聚合物来涂布线材；使用光谱法来测量所述聚合物涂层的所述聚合；以及根据所述聚合自动生成用于大致实时控制所述线材涂布过程的数据。 43.根据权利要求42所述的方法，所述方法还包括馈送所述线材通过所述线材涂布系统，该线材涂布系统既执行所述线材涂布过程又执行所述聚合物涂层的所述聚合的所述测量。 44.根据权利要求42至43中任意一项所述的方法，该方法还包括：使用自动生成的数据在反馈回路中控制所述线材涂布过程，使得自动调整所述线材涂布过程。 45.根据权利要求42至44中任意一项所述的方法，其中，使用光谱法包括获取所述聚合物涂层的光谱。 46.根据权利要求45所述的方法，其中，使用光谱法来测量所述聚合物涂层的所述聚合的步骤包括：将光谱仪探针定位成与涂布的线材相邻；以及使用所述探针获取所述聚合物的所述光谱。 47.根据权利要求46所述的方法，其中，所述光谱仪探针维持在距所述线材的固定距离处，使得所述光谱仪探针不接触所述线材，并且相对于所述线材处于固定方位。 48.根据权利要求45至47中任意一项所述的方法，所述方法还包括向所获取的光谱施加信号预处理。 49.根据权利要求45至48中任意一项所述的方法，所述方法还包括对所获取的光谱执行化学计量分析，以便测量所述聚合物涂层的所述聚合。 50.根据权利要求49所述的方法，其中，所述化学计量分析包括将所获取的光谱投影到相关模型。 51.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，所述光谱法是近红外光谱法即NIR。 52.根据权利要求51所述的方法，其中，所述NIR在900至1750nm的带中获取。 53.根据任一前述权利要求所述的方法，该方法还包括：在视觉显示器上自动显示用于大致实时地控制所述线材涂布过程的、自动生成的数据。 54.一种用于创建相关模型以自动控制线材涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：使用光谱法获取多个线材涂层材料的光谱；对所获取的光谱施加信号预处理；使用经预处理的光谱来创建相关模型，其中，所述相关模型将所述光谱与所述线材涂层材料的所述聚合相关联。 55.根据权利要求54所述的方法，其中，所述相关模型使用验证光谱来验证。 56.根据权利要求55所述的方法，其中，所述相关模型使用化学计量分析来创建。 57.一种用于自动控制线材涂层材料的聚合的线材涂布系统，该系统包括：根据权利要求19至37中任意一项所述的设备；线材涂布设备；光谱仪探针；光谱仪，该光谱仪包括：计算单元；和操作者界面；和线材，其中，所述系统被构造为执行根据权利要求42至56中任意一项所述的方法。
所属类别：	发明专利