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原文传递一种基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置

专利名称：	一种基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置
摘要：	本实用新型涉及一种基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，该检测装置包括线型图像采集装置和线型光源；线型图像采集装置包括线阵传感器和成像透镜，其设置在线型光源上方，被测物体沿固定方向由线型光源下方移动通过；线型图像采集装置的光轴所在的平面与被测物体移动平面的相交所形成的线型区域为被检测区域；线型光源相对被测物体的运动平面沿线型光源长度方向偏移预定距离，长度方向与被测物体移动方向垂直，与被检测区域平行；线型光源朝向被检测区域倾斜照射被测物体；该线型光源在凹凸缺陷的平行和垂直方向上有照明的反射分量，线形图像采集装置接收反射光并感光，在采集图像上形成灰度变化。本实用新型解决了运动方向凹凸缺陷无法检测的问题。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京大恒图像视觉有限公司
发明人：	刘婕宇;董淑雯;李庆梅;王亚鹏;陈绍义
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-12T00:00:00+0800
申请号：	CN201920172425.9
公开号：	CN209624422U
代理机构：	北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	孙红颖
分类号：	G01N21/89(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100193北京市海淀区东北旺西路8号中关村软件园9号楼国际软件大厦2区3层
主权项：	1.一种基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所述检测装置包括线型图像采集装置(1)和线型光源(2)；所述线型图像采集装置(1)包括线阵传感器和成像透镜，其设置在所述线型光源(2)上方，被测物体(3)沿固定方向由所述线型光源(2)下方移动通过；线型图像采集装置(1)的光轴所在的平面与所述被测物体(3)移动平面的相交所形成的线型区域为被检测区域(5)；所述线型光源(2)相对所述被测物体(3)的运动平面沿所述线型光源(2)长度方向偏移预定距离，且长度方向与所述被测物体(3)移动方向垂直，与所述被检测区域(5)平行；所述线型光源(2)朝向所述被检测区域(5)倾斜照射所述被测物体(3)；当所述被测物体(3)上具有凹凸缺陷(4)时，所述线型光源(2)在所述凹凸缺陷(4)的平行和垂直方向上有照明的反射分量，所述线型图像采集装置(1)接收反射光并感光，在采集图像上形成灰度变化。 2.根据权利要求1所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所述线型光源(2)的主照明面与所述被测物体(3)所在平面的倾斜角度为5～175°。 3.根据权利要求1或2所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所述线型光源(2)的光轴沿所述线型光源(2)长度方向与被检测区域(5)倾斜角度为10～80°。 4.根据权利要求1所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所述线型光源(2)包括多个发光单元，多个所述发光单元沿所述线型光源(2)长度方向成一排或多排排列。 5.根据权利要求4所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所有所述发光单元的主光轴均互相平行。 6.根据权利要求5所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所有所述发光单元按所需光轴倾斜角度旋转安装，使所述发光单元发出的光以预定倾斜角度倾斜。 7.根据权利要求5所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所述发光单元主光轴垂直向下安装，所述发光单元下方加装光学透镜，改变最终照射所述被测物体(3)表面的主光轴角度。 8.根据权利要求5所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所述发光单元主光轴垂直向下安装，所述发光单元下方加装微结构的光学膜，改变最终照射所述被测物体(3)表面的主光轴角度。 9.根据权利要求4所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，多个所述发光单元成多排排列时，前后排的所述发光单元成交错状排列，或采用相同排列顺序排列。 10.根据权利要求1所述的基于线阵成像的凹凸缺陷检测装置，其特征在于，所述线型光源(2)采用光纤光源照明，所述光纤光源包括光纤发光端(6)、光源外壳(7)、传输光纤(8)和光源输出设备(10)，所述光纤发光端(6)通过导光管安装在所述光源外壳(7)上，所述导光管根据需要以预定倾斜角度安装，所述光纤发光端通过所述传输光纤(8)与所述光源输出设备(10)相连，所述光源输出设备(10)为所述光纤发光端(6)提供光纤。
所属类别：	实用新型