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三维空间角分辨光谱测量系统
| 专利名称： | 三维空间角分辨光谱测量系统 |
| 摘要： | 本实用新型三维空间角分辨光谱测量系统包括可旋转的样品台、物镜、光学透镜A1、光学透镜B1、光谱探测设备，物镜、光学透镜A1、光学透镜B1和光谱探测设备沿同一光轴依次布置，光谱探测设备位于光学透镜B1后的后焦平面第一次成像面M1处；三维空间角分辨光谱测量系统满足以下条件：0≤L0≤2fA1，fA1 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海复享光学股份有限公司 |
| 发明人： | 卢国鹏;殷海玮;崔靖 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-10T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-15T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201822064090.7 |
| 公开号： | CN209640186U |
| 代理机构： | 上海唯源专利代理有限公司 |
| 代理人： | 曾耀先 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 200433上海市杨浦区国定东路200号4号楼412-1室 |
| 主权项： | 1.一种三维空间角分辨光谱测量系统，其特征在于：包括可旋转的样品台、物镜、光学透镜A1、光学透镜B1、光谱探测设备，所述样品台设有刻度盘，通过旋转所述样品台以探测样品各个不同出射面上的信息，所述物镜、所述光学透镜A1、所述光学透镜B1和所述光谱探测设备沿同一光轴依次布置，所述光谱探测设备位于所述光学透镜B1后的后焦平面第一次成像面M1处； 三维空间角分辨光谱测量系统满足以下条件： 0≤L0≤2fA1 fA1 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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