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原文传递一种光谱测量系统

专利名称：	一种光谱测量系统
摘要：	本申请涉及光谱测量技术领域，公开了一种光谱测量系统。本申请中，光谱测量系统包括：光谱检测装置、角度扫描装置和用于承载被测样品的承载机构；角度扫描装置与光谱检测装置连接，用于不断改变光谱检测装置射入的光的入射角，使射出的光在被测样品的表面的不同点聚焦。本光谱测量系统，在进行光谱测量时，通过一次测量能够获取多个点的光谱信息，并且能够有效避免被测样品表面物质分布不均造成的物质识别误差及混合物中物质含量比例测试不准的问题，同时还能够避免热量集中带来的危险和测量的不利影响。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳达闼科技控股有限公司
发明人：	牟涛涛;骆磊;黄晓庆
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201880000002.7
公开号：	CN108323182A
代理机构：	北京智晨知识产权代理有限公司 11584
代理人：	张婧
分类号：	G01N21/65(2006.01)I;G01J3/44(2006.01)I;G01J3/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01J;G01N21;G01J3;G01N21/65;G01J3/44;G01J3/06
申请人地址：	518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室（入驻深圳市前海商务秘书有限公司）
主权项：	1.一种光谱测量系统，其中，包括：光谱检测装置、角度扫描装置和用于承载被测样品的承载机构；所述角度扫描装置与所述光谱检测装置连接，用于不断改变所述光谱检测装置射入的光的入射角，使射出的光在所述被测样品的表面的不同点聚焦。
所属类别：	发明专利