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原文传递一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法

专利名称：	一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法
摘要：	本发明涉及一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法。具体步骤为配制实验所需的硝酸铜溶液、PAN溶液和Tris‑HCl缓冲溶液试剂；生成Cu2+的络合物，通过紫外可见漫反射光谱，确定铜离子的最佳吸收波长点；采用控制变量的方法对pH、PAN用量、反应时间和样品用量进行优化，得到最佳检测条件；在最佳检测条件下，配制一系列不同浓度的Cu2+溶液，利用混合纤维素膜进行富集后，直接检测其紫外可见漫反射光谱，建立Cu2+的工作曲线。本发明基于紫外可见漫反射光谱及膜富集技术，无需洗脱步骤，检测迅速，准确度高。本发明适用于水中痕量重金属离子的定量分析。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	天津;12
申请人：	天津工业大学
发明人：	卞希慧;陈望松;郭玉高
专利状态：	有效
申请日期：	2018-05-02T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-12T00:00:00+0800
申请号：	CN201810417195.8
公开号：	CN110441243A
分类号：	G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	300387天津市西青区宾水西道399号
主权项：	1.一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法，其特征在于：配制实验所需的试剂；并采集配制而成络合物的紫外漫反射光谱，确定铜离子的最佳紫外可见吸收波长点；采用控制变量的方法对测试条件(pH、PAN的用量、反应时间和样品用量)进行优化；建立痕量铜离子检测的工作曲线，得到Cu2+的检出限，对未知样品预测。 2.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的pH的优化过程为：在其他条件一定的情况下(Cu2+浓度为6μg/L，PAN用量2.0mL，样品用量100mL，反应时间10min)，用Tris-HCl缓冲溶液调节溶液的pH值，用pH计测量pH分别为4.3、6、7、7.5、8、8.5、9、9.5时，测量络合物Cu-PAN的吸光度，吸光度的最大值对应的pH为最佳pH。 3.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的PAN用量的优化过程为：在pH最佳，其他条件一定的情况下(Cu2+浓度为6μg/L，样品用量100mL，反应时间10min)，测量PAN溶液在0.2-1.4mL范围内7种不同的加入量对Cu-PAN吸光度。吸光度的最大值对应的PAN用量为最佳用量。 4.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的反应时间的优化过程为：在pH、PAN用量最佳，其他条件一定的情况下(Cu2+浓度为6μg/L，样品用量100mL)，考察不同反应时间(2、5、7、12、15、20min)下络合物Cu-PAN的吸光度。吸光度的最大值对应的PAN用量为最佳络合物用量。 5.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的样品用量的优化过程为：在pH、PAN用量、反应时间最佳条件下，考察6μg/L Cu2+标准溶液的不同样品体积(25、50、75、100、125、150mL)下络合物Cu-PAN的吸光度。吸光度的最大值对应的样品用量为最佳样品用量。
所属类别：	发明专利