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原文传递一种无砟轨道垂向变形测量装置

专利名称：	一种无砟轨道垂向变形测量装置
摘要：	本实用新型涉及一种无砟轨道垂向变形测量装置，包括壳体和设置在壳体内的位移传感器，所述壳体包括保护罩、底座和设在底座上并围绕位移传感器四周的围挡，所述底座固定在无砟轨道的轨道板的侧面；所述壳体的下侧设有U型出口，所述位移传感器的检测端从所述U型出口向下伸出壳体，并与设置在底座板或支撑层上表面的光滑顶垫相接触。与现有技术相比，本实用新型可实现无砟轨道的砂浆层离缝位移的连续测量，可以直接精确监测轨道板垂向砂浆层离缝位移量；传感器完全密封于壳体内，可以最大程度保护传感器不受外部环境损伤和影响，极大的减轻了维护工作量和设备成本，并提高了工作效率和数据采集的完整性和精度，具有显著的应用价值。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海工程技术大学
发明人：	季杰;路宏遥;何越磊;李再帏;赵晨晖;万伟明;连茜椰
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-12T00:00:00+0800
申请号：	CN201920155748.7
公开号：	CN209619772U
代理机构：	上海科盛知识产权代理有限公司
代理人：	宣慧兰
分类号：	E01B35/12(2006.01);E;E01;E01B;E01B35
申请人地址：	201620上海市松江区龙腾路333号
主权项：	1.一种无砟轨道垂向变形测量装置，包括壳体和设置在壳体内的位移传感器，其特征在于，所述壳体包括保护罩、底座和设在底座上并围绕位移传感器四周的围挡，所述底座固定在无砟轨道的轨道板的侧面；所述壳体的下侧设有U型出口，所述位移传感器的检测端从所述U型出口向下伸出壳体，并与设置在底座板或支撑层上表面的光滑顶垫相接触。 2.根据权利要求1所述的一种无砟轨道垂向变形测量装置，其特征在于，所述位移传感器的检测端套有伸缩软管，所述伸缩软管的一端与所述光滑顶垫的上表面连接，另一端与所述壳体下侧的U型出口连接。 3.根据权利要求1所述的一种无砟轨道垂向变形测量装置，其特征在于，所述底座在竖直方向的两个侧边分别设有与底座在同一水平面的支板，所述底座通过支板与轨道板的侧面连接。 4.根据权利要求3所述的一种无砟轨道垂向变形测量装置，其特征在于，所述支板通过化学锚栓与轨道板的侧面连接。 5.根据权利要求1所述的一种无砟轨道垂向变形测量装置，其特征在于，所述位移传感器通过夹持装置固定在所述壳体内。 6.根据权利要求5所述的一种无砟轨道垂向变形测量装置，其特征在于，所述夹持装置为卡箍，所述卡箍卡住所述位移传感器并固定在底座上。 7.根据权利要求1所述的一种无砟轨道垂向变形测量装置，其特征在于，所述位移传感器为拉杆式位移传感器。 8.根据权利要求1所述的一种无砟轨道垂向变形测量装置，其特征在于，所述保护罩上设有传感器后端出线孔。
所属类别：	实用新型