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原文传递用于落射荧光收集的图案化的光学器件

专利名称：	用于落射荧光收集的图案化的光学器件
摘要：	本公开涉及用于落射荧光收集的系统和方法。示例系统包括光学元件、一个或多个光源，以及图像传感器。光学元件包括至少一个高反射率(HR)涂层部分和至少一个抗反射(AR)涂层部分。(多个)光源沿着第一光轴光学地耦合到光学元件。一个或多个光源发射激发光，所述激发光经由光学元件与样品相互作用。样品包括荧光团，其响应于激发光发射发射光。图像传感器沿着第二光轴光学地耦合到光学元件。图像传感器经由光学元件检测发射光。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	威里利生命科学有限责任公司
发明人：	S.辛哈
专利状态：	有效
申请日期：	2018-04-04T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201880023769.1
公开号：	CN110494738A
代理机构：	北京市柳沈律师事务所
代理人：	王冉
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	美国加利福尼亚州
主权项：	1.一种系统，包括：光学元件，其中，所述光学元件包括至少一个高反射率(HR)涂层部分和至少一个抗反射(AR)涂层部分；一个或多个光源，其沿着第一光轴光学地耦合到所述光学元件，其中，所述一个或多个光源发射激发光，其中，所述激发光经由所述光学元件与样品相互作用，其中，所述样品包括响应于所述激发光而发射发射光的荧光团；以及图像传感器，沿着第二光轴光学地耦合到所述光学元件，其中，所述图像传感器经由所述光学元件检测所述发射光。 2.如权利要求1所述的系统，其中，所述HR涂层部分配置为反射所述激发光以便与所述样品相互作用，其中，所述AR涂层部分对于所述发射光是基本上透明的。 3.如权利要求1所述的系统，其中，所述HR涂层部分配置为反射所述发射光以便将其导向所述图像传感器，其中，所述AR涂层部分对于所述激发光是基本上透明的。 4.如权利要求1所述的系统，其中，所述HR涂层部分包括所述光学元件上的多个HR涂层区域。 5.如权利要求4所述的系统，其中，所述一个或多个光源包括多个光源，其中，所述多个光源中的每个光源向所述光学元件上的相应的HR涂层区域发射激发光。 6.如权利要求5所述的系统，其中，所述多个光源中的每个光源以相应的激发波长发射激发光。 7.如权利要求1所述的系统，其中，所述一个或多个光源、所述光学元件和所述图像传感器相对于所述样品以落射荧光光学显微镜配置布置。 8.如权利要求1所述的系统，其中，所述HR涂层部分包括金属涂层。 9.如权利要求1所述的系统，其中，所述AR涂层部分包括电介质涂层。 10.如权利要求1所述的系统，还包括光学地耦合到所述一个或多个光源的扫描光学器件，其中，所述扫描光学器件至少沿着平行于所述样品的表面的第一样品轴线在所述样品上扫描激发光。 11.如权利要求10所述的系统，其中，所述扫描光学器件包括至少一个检流镜。 12.如权利要求1所述的系统，还包括台架，其中，所述台架支撑所述样品，其中，所述台架至少沿着平行于所述样品的表面的第二样品轴线移动所述样品。 13.如权利要求1所述的系统，其中，所述图像传感器包括多像素相机传感器。 14.如权利要求1所述的系统，还包括控制器，其具有至少一个存储器和至少一个处理器，其中，所述至少一个处理器执行存储在所述至少一个存储器中的指令，以便进行操作，所述操作包括：使所述一个或多个光源发射所述激发光；以及通过所述图像传感器检测所述发射光。 15.如权利要求14所述的系统，还包括扫描光学器件，其中，所述扫描光学器件光学地耦合到所述一个或多个光源，其中所述操作包括：调节所述扫描光学器件，以便至少沿平行于所述样品的表面的第一样品轴线用激发光扫描所述样品。 16.如权利要求14所述的样品，还包括台架，其中，所述台架支撑所述样品，其中，所述操作还包括：调节所述台架，以便至少沿平行于所述样品的表面的第二样品轴线移动所述样品。 17.一种方法，包括：使一个或多个光源发射激发光，其中，所述激发光与光学元件相互作用，其中，所述光学元件包括至少一个高反射率(HR)涂层部分和至少一个抗反射(AR)涂层部分，其中，当与所述光学元件的HR涂层部分相互作用时，所述激发光从入射光轴作为反射的激发光被反射到反射光轴，其中，所述反射的激发光与样品相互作用，其中，所述样品包括响应于所述反射的激发光发射发射光的荧光团；以及通过图像传感器检测所述发射光，其中，所述图像传感器沿着所述反射光轴耦合到所述光学元件，其中，所述发射光的至少一部分穿过所述光学元件透射到所述图像传感器。 18.如权利要求17所述的方法，还包括以下中的至少一个：调节扫描光学器件以便至少沿平行于所述样品的表面的第一轴线用激发光扫描所述样品，其中，所述扫描光学器件光学地耦合到所述一个或多个光源；或调节台架，以便至少沿平行于所述样品的表面的第二轴线移动所述样品，其中，所述台架支撑所述样品。 19.一种方法，包括：使一个或多个光源发射激发光，其中，所述激发光与所述光学元件相互作用，其中，所述光学元件包括至少一个高反射率(HR)涂层部分和至少一个抗反射(AR)涂层部分，其中所述激发光沿着光学透射轴线穿过所述光学元件向样品透射，其中，所述样品包括响应于所述激发光发射发射光的荧光团，其中，所述发射光由所述光学元件的HR涂层部分沿着光学反射轴线向图像传感器反射；以及由所述图像传感器检测所述发射光，其中，所述图像传感器沿着所述光学反射轴线耦合到所述光学元件。 20.如权利要求19所述的方法，还包括以下中的至少一个：调节扫描光学器件以便至少沿平行于所述样品的表面的第一轴线用激发光扫描所述样品，其中，所述扫描光学器件光学地耦合到所述一个或多个光源；或调节台架，以便至少沿平行于所述样品的表面的第二轴线移动所述样品，其中，所述台架支撑所述样品。
所属类别：	发明专利