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原文传递 一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法
专利名称: 一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法
摘要: 本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法,系统包括壳体、夹紧装置、传输装置一、凸面检测装置、传输装置二、凹面检测装置、定位装置以及控制器。夹紧装置包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件,传输装置一包括电磁铁一、伸缩件一以及传输组件一,凸面检测装置包括检测座一、若干个触压开关一以及若干个探针一。传输装置二包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二,凹面检测装置包括检测座二、若干个触压开关二以及若干个探针二,定位装置包括测距传感器二和测距传感器三。本发明实现了对磁瓦的凹凸面的缺陷检查,提高缺陷的检查效果,可以降低劳动强度,保护工人的眼睛,而且提高缺陷检查的效率和误检率。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 安徽;34
申请人: 安徽万磁电子有限公司
发明人: 唐睿;何进;陈益民
专利状态: 有效
申请日期: 2019-09-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-11-29T00:00:00+0800
申请号: CN201910932189.0
公开号: CN110514587A
代理机构: 合肥市泽信专利代理事务所(普通合伙)
代理人: 方荣肖
分类号: G01N19/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N19
申请人地址: 231524 安徽省合肥市庐江县石头镇工业园区
所属类别: 发明专利
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