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原文传递 TALBOT X射线显微镜

专利名称：	TALBOT X射线显微镜
摘要：	用于x射线显微镜的系统使用具有微米尺度或纳米尺度束强度分布的微束阵列，以提供对物体的微米尺度或纳米尺度区域的选择性照射。阵列检测器被定位为使得检测器的每个像素仅检测与单个微米尺度束或纳米尺度相对应的x射线。这允许由每个x射线检测器像素产生的信号能够用所照射的特定、有限的微米尺度或纳米尺度区域来识别，从而允许在使用更大尺寸和尺度的像素的检测器的情况下，生成纳米尺度或微米尺度的物体的采样透射图像。因此，可以使用量子效率更高的检测器，因为横向分辨率仅由微米尺度束或纳米尺度束的尺寸提供。可以使用阵列x射线源和一组Talbot干涉条纹来产生微米尺度或纳米尺度的束。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	斯格瑞公司
发明人：	云文兵;西尔维娅·贾·云·路易斯;雅诺什·科瑞;大卫·维恩;斯里瓦特桑·塞沙德里
专利状态：	有效
申请日期：	2018-04-16T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-29T00:00:00+0800
申请号：	CN201880025128.X
公开号：	CN110520716A
代理机构：	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人：	林强
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	美国加利福尼亚州
所属类别：	发明专利