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一种定性检测电子产品中石棉的电子显微-X射线衍射法
| 专利名称： | 一种定性检测电子产品中石棉的电子显微-X射线衍射法 |
| 摘要： | 一种定性检测电子产品中石棉的电子显微‑X射线衍射法，是一种将扫描电子显微镜观察和X射线衍射观测相结合的方法，通过扫描电子显微镜的观察，考虑了样品的形态特性并初步确认石棉种类，进而采用X射线衍射确认石棉种类。该方法与单独使用X射线衍射法相比，使得X射线衍射观测有的放矢，其结果准确、重现性好，可用于准确鉴定出电子产品待测样品中含有的微量石棉，适用于各类电子产品中石棉的检验。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国检验检疫科学研究院 |
| 发明人： | 王宏伟;李俊芳;付艳玲;朱玉松;夏德富;席广成;肖海清 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810222470.0 |
| 公开号： | CN108414551A |
| 代理机构： | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 |
| 代理人： | 孙国栋 |
| 分类号： | G01N23/2005(2018.01)I;G01N23/2202(2018.01)I;G01N23/2206(2018.01)I;G01N23/207(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2005;G01N23/2202;G01N23/2206;G01N23/207 |
| 申请人地址： | 100123 北京市朝阳区高碑店北路甲3号 |
| 主权项： | 1.一种定性检测电子产品中石棉的电子显微‑X射线衍射法，其特征在于，具体步骤如下：步骤1，制作不同种类石棉在一定放大倍数下的扫描电子显微标准图像：在加速电压为5‑15kV，放大倍数为500‑50000倍的条件下，在一定放大倍数下观察各个种类的石棉，记录扫描电子显微镜相应放大倍数下的标准图像，获得不同种类石棉标准品的形态特性；步骤2，取样并灰化处理：在待检测的电子产品上取样，以适当方式粉碎进行灰化处理，以去除有机成分，灰化温度大于500℃；步骤3，样品筛分：待已灰化的电子产品试样在干燥器中冷却至室温后，在玛瑙研钵中磨碎并通过孔径425μm～500μm的金属筛进行筛分；步骤4，扫描电子显微镜观测：对经步骤3处理后的试样进行扫描电子显微镜观测，以确认待检测的电子产品试样中是否含有纤维粒子；若无，则加大取样比例，重复步骤2至3，然后经扫描电子显微镜观测，直至确认试样中不存在石棉；若有，则将观测到的图像与步骤1中获得的扫描电子显微标准图像比较，通过比较分析形态特性确定试样中的石棉种类，继续步骤5；步骤5，进行能谱分析：将经步骤3处理后的试样取样后进行能谱分析，若纤维状粒子中不含镁、硅、氧等元素，则所述待检测的电子产品中不含石棉；若纤维状粒子中含有镁、硅、氧等元素，则继续步骤6；步骤6，石棉的X射线衍射定性确认：将经步骤3处理后的试样取样后均匀地填充在X射线衍射分析仪试样架上，按X射线衍射分析条件确认分析试样是否存在石棉的特征衍射峰，若存在，则所述待检测的电子产品中含有石棉，若不存在，则所述待检测的电子产品中不含石棉。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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