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一种定性检测电子产品中石棉的偏光显微-X射线衍射法
| 专利名称： | 一种定性检测电子产品中石棉的偏光显微-X射线衍射法 |
| 摘要： | 一种定性检测电子产品中石棉的偏光显微‑X射线衍射法，是将X射线衍射和偏光显微观察相结合的方法，通过偏光显微镜的观察，考虑了样品在不同折射率油里呈现的光学特性并初步确认石棉种类，与单独使用X射线衍射法相比，使得X射线衍射观测有的放矢，其结果准确、重现性好，可用于准确鉴定出电子产品待测样品中含有的微量石棉，适用于各类电子产品中石棉的检验，可有效规避电子产品的石棉危害和贸易风险。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国检验检疫科学研究院 |
| 发明人： | 王宏伟;陶自强;马强;夏德富;苏宏伟;肖海清;白桦;胡斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810222760.5 |
| 公开号： | CN108445028A |
| 代理机构： | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 |
| 代理人： | 孙国栋 |
| 分类号： | G01N23/2005(2018.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N21;G01N23/2005;G01N21/84 |
| 申请人地址： | 100123 北京市朝阳区高碑店北路甲3号 |
| 主权项： | 1.一种定性检测电子产品中石棉的偏光显微‑X射线衍射法，其特征在于，具体步骤如下：步骤1，取样并灰化处理，在待检测的电子产品上取样，以适当方式粉碎进行灰化处理，以去除有机成分，灰化温度大于500℃；步骤2，样品筛分，待已灰化的电子产品试样在干燥器中冷却至室温后，在玛瑙研钵中磨碎并通过孔径425μm～500μm的金属筛进行筛分；步骤3，取样以制作标本，称取筛分后的电子产品试样20mg置于100mL具塞三角烧瓶中，加入40mL水摇匀，并置于磁力搅拌器上搅拌，搅拌的同时用微量移液管分别吸取20μL混合溶液，滴在载玻片上，自然干燥后，盖上盖玻片，于盖玻片边缘滴入折射率浸油，使盖玻片紧贴载玻片，保证载玻片上的矿物粒子不重叠、且不呈悬浮状态；步骤4，偏光显微观测，将步骤3中的标本置于偏光显微镜载物台上，用色散物镜在单偏光下观察粒子形貌，若发现标本中含有纤维粒子，则对观察到的纤维粒子在正交偏光下确认消光角纤维，对有消光角的标本，观测其振动方向，以初步确认石棉的种类；若未发现标本中含有纤维粒子，则以一定比例继续在所述待检测的电子产品中取样，返回步骤1至3，直至确认该待检测的电子产品中不含有纤维粒子；步骤5，石棉的X射线衍射定性确认，将经步骤2处理后的样品取样后均匀地填充在X射线衍射分析仪试样架上，进一步按X射线衍射分析条件确认分析试样是否存在石棉的特征衍射峰；若有，则所述待检测的电子产品中含有石棉；若无，则所述待检测的电子产品中不含石棉。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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