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原文传递一种高精度中子无损检测装置

专利名称：	一种高精度中子无损检测装置
摘要：	本实用新型公开了一种高精度中子无损检测装置，包括中子发射源、底座、屏蔽盖、中子成像探测器，底座上侧面为样品放置区，底座中间设有安装中子发射源的腔体，所述的腔体贯穿底座的上侧设置，所述的屏蔽盖设在底座上侧，屏蔽盖可在上下方向进行位置的调节，所述的中子成像探测器设置在屏蔽盖的上侧；所述的屏蔽盖为上小下大的锥形管体结构，还包括屏蔽管，所述的屏蔽管竖直设置在屏蔽盖内，屏蔽管的上端与屏蔽盖的上端开口处连接，屏蔽管为可上下伸缩设置，所述的屏蔽盖的内侧壁上设有反射调节板，反射调节板的下端与屏蔽盖铰接连接，屏蔽盖上设有螺纹孔，所述的螺纹孔上连接有调节螺杆，所述的调节螺杆与反射调节板的上端连接。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京中百源国际科技创新研究有限公司
发明人：	钱铁威
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-03T00:00:00+0800
申请号：	CN201920468855.5
公开号：	CN209727808U
代理机构：	北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	李宏伟
分类号：	G01N23/05(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	101149 北京市通州区运河核心区IV-07地块绿地大厦1号楼22层21389
所属类别：	实用新型