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炎症标志物测量方法、炎症标志物测量设备、炎症标志物测量程序和存储程序的记录介质
| 专利名称： | 炎症标志物测量方法、炎症标志物测量设备、炎症标志物测量程序和存储程序的记录介质 |
| 摘要： | 使用非线性函数计算炎症标志物，所述非线性函数包括与红细胞聚集相关的参数和另一个与红细胞密度相关的参数作为变量。基于从血液样本测量的透射光强度‑时间曲线计算与红细胞聚集相关的参数。从血液样本测量与红细胞密度相关的参数。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 日本光电工业株式会社 |
| 发明人： | 樋口诚 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-01-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201880009050.2 |
| 公开号： | CN110537088A |
| 代理机构： | 北京奉思知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 邹轶鲛;石红艳 |
| 分类号： | G01N15/05(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 日本东京 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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