当前位置: 首页> 交通专利数据库 >详情
原文传递 一种电子封装微焊点在高温条件下的热迁移实验装置
专利名称: 一种电子封装微焊点在高温条件下的热迁移实验装置
摘要: 本发明公开了一种电子封装微焊点在高温条件下的热迁移实验装置,包括底座,所述底座上设有横向滑轨,两个横向滑块滑动配合连接于横向滑轨上,一个横向滑块上固定有加热机构,另一个横向滑块上固定有冷却机构,所述加热机构的加热面和冷却机构的冷却面竖向布置;所述加热面和冷却面上可拆卸连接有用于横向放置试样的样品台,试样两端分别与加热机构的加热面和冷却机构的冷却面接触。其结构简单,能够适用于较高温度的热迁移实验,有效避免除温度梯度外其他因素对实验结果的影响,能够在钎料熔化的同时发生热迁移,使金属原子通过液态钎料发生迁移,可以极大地减小热迁移阻力,极大地提高热迁移效率。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 重庆;50
申请人: 重庆理工大学
发明人: 杨栋华;杜飞;冉藤;翟翔;田将;秦浩桐;杨明波;张春红
专利状态: 有效
申请日期: 2019-09-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-12-03T00:00:00+0800
申请号: CN201910929814.6
公开号: CN110530926A
代理机构: 重庆华科专利事务所
代理人: 康海燕
分类号: G01N25/20(2006.01);G;G01;G01N;G01N25
申请人地址: 400054 重庆市巴南区李家沱红光大道69号
所属类别: 发明专利
检索历史
应用推荐