专利名称: | 一种电子封装微焊点在高温条件下的热迁移实验装置 |
摘要: | 本发明公开了一种电子封装微焊点在高温条件下的热迁移实验装置,包括底座,所述底座上设有横向滑轨,两个横向滑块滑动配合连接于横向滑轨上,一个横向滑块上固定有加热机构,另一个横向滑块上固定有冷却机构,所述加热机构的加热面和冷却机构的冷却面竖向布置;所述加热面和冷却面上可拆卸连接有用于横向放置试样的样品台,试样两端分别与加热机构的加热面和冷却机构的冷却面接触。其结构简单,能够适用于较高温度的热迁移实验,有效避免除温度梯度外其他因素对实验结果的影响,能够在钎料熔化的同时发生热迁移,使金属原子通过液态钎料发生迁移,可以极大地减小热迁移阻力,极大地提高热迁移效率。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 重庆;50 |
申请人: | 重庆理工大学 |
发明人: | 杨栋华;杜飞;冉藤;翟翔;田将;秦浩桐;杨明波;张春红 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2019-09-29T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-12-03T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201910929814.6 |
公开号: | CN110530926A |
代理机构: | 重庆华科专利事务所 |
代理人: | 康海燕 |
分类号: | G01N25/20(2006.01);G;G01;G01N;G01N25 |
申请人地址: | 400054 重庆市巴南区李家沱红光大道69号 |
所属类别: | 发明专利 |