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一种用于辉光放电质谱检测的高纯铟样品的测前处理方法
| 专利名称： | 一种用于辉光放电质谱检测的高纯铟样品的测前处理方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于辉光放电质谱检测的高纯铟样品的测前处理方法，首先将待测的高纯铟原样进行超声腐蚀，然后将腐蚀后的样品再依次进行超声清洗、吹干，将吹干后的样品置于两块非金属硬板之间，用外力作用于上部的非金属硬板，使样品受到挤压后在样品底部产生一个平面，外力继续作用于上部的硬板直至样品底部的平面不断增大至满足辉光放电质谱仪测试所需的大小，停止外力，取出两块非金属硬板之间的片状样品，再清洗、吹干后得到符合测试需求的待测样品片，本发明与传统测前处理使用的方法相比简单，易行，且无杂质引入，不会对样品造成污染，且成本低廉，本发明缩短了辉光放电质谱检测的时间且提高了检测速度，实用价值高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 云南;53 |
| 申请人： | 昆明理工大学 |
| 发明人： | 杨斌;杨佳;吴鉴;李一夫;蒋文龙;田阳;熊恒;曲涛;赵晋阳;徐宝强;刘大春;杨红卫;陈秀敏;郁青春;王飞;戴永年 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-10-22T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-06T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201911005561.X |
| 公开号： | CN110542604A |
| 代理机构： | 昆明润勤同创知识产权代理事务所(特殊普通合伙) |
| 代理人： | 王远同 |
| 分类号： | G01N1/32(2006.01);G;G01;G01N;G01N1 |
| 申请人地址： | 650093 云南省昆明市一二一大街文昌路68号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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