原文传递
一种用于金属铜中杂质元素ICP-MS分析的快速分离铜基体的方法
| 专利名称： | 一种用于金属铜中杂质元素ICP-MS分析的快速分离铜基体的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种金属铜中杂质元素ICP‑MS分析的快速分离铜基体的方法，该方法采用一定配比的硝酸和硫酸（少量）的混合酸溶液对金属铜样品进行消解，利用大电流快速电解法去除铜基体，得到待测溶液；然后采用电感耦合等离子体质谱法（ICP‑MS）在一定仪器工作条件下，实现了对待测溶液中砷、锑、碲、锡、铅、锌、铁、镍、钴、铬、镉、锰十二种杂质元素的快速、同时测定。通过与国标GB/T 5121.28‑2010对比，该方法分离效果好，消除了基体干扰，能够快速、同时测定砷、锑、碲、锡、铅、锌、铁、镍、钴、铬、镉、锰十二种杂质元素，测量时间短，满足金属铜中十二种痕量杂质元素的快速分析的需求。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北矿检测技术有限公司 |
| 发明人： | 冯先进;杨斐;史烨弘;韩鹏程;赵振;李瑞华;房胜楠;董璐;李华昌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-10-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910987126.5 |
| 公开号： | CN110553887A |
| 分类号： | G01N1/28(2006.01);G;G01;G01N;G01N1 |
| 申请人地址： | 102628 北京市大兴区北兴路22号1号楼A708 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
