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高纯铅中微量金属杂质的ICP-MS测定方法
| 专利名称： | 高纯铅中微量金属杂质的ICP-MS测定方法 |
| 摘要： | 本发明涉及的高纯铅中微量金属杂质的ICP-MS测定方法，采用高纯硝酸溶 解样品，电解法去除样品中的铅；利用电感耦合等离子体质谱仪采用跳峰方式 对空白、工作曲线标准溶液以及待测样品元素扫描测试，得到待测元素的含量。 本发明涉及的高纯铅中微量金属杂质的ICP-MS测定方法操作方便，可有效消除 总固含量过高造成的基体效应，避免样品制备过程中的污染，大大降低记忆效 应，显著提高测试精度。本发明涉及的高纯铅中微量金属杂质的ICP-MS测定方 法，适用于多种微量金属杂质含量的分析测试。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 中国兵器工业集团第五三研究所 |
| 发明人： | 李本涛;冯典英;赵 华;黄 辉 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910014394.5 |
| 公开号： | CN101551357 |
| 代理机构： | 济南舜源专利事务所有限公司 |
| 代理人： | 苗 峻 |
| 分类号： | G01N27/68(2006.01)I |
| 申请人地址： | 250031山东省济南市天桥区田家庄东路3号 |
| 主权项： | 1、一种高纯铅中微量金属杂质的ICP-MS测定方法，包括样品处理和测试两部 分，具体过程包括： a.样品处理：将精确定量的样品溶解在1∶10～20的高纯稀硝酸中；以铂 网为电极，在1.0A～1.2A条件下对样品电解2h/g～3h/g，对电解液定容后得 到待测样品试液； b.空白制备∶将与a过程等量的1∶10～20高纯稀硝酸采用与a相同的条 件处理，制备空白； c.工作曲线标准溶液制备：采用与待测组分对应各元素的标准储备液配制 具有梯度浓度的标准溶液，溶液浓度范围0.2～2.0μg/L； d.测试与数据处理：采用跳峰方式对空白、工作曲线标准溶液以及待测样 品元素扫描测试，得到待测元素的含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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