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一种基于X射线粉末衍射技术的β-HMX晶型纯度检测方法
| 专利名称： | 一种基于X射线粉末衍射技术的β-HMX晶型纯度检测方法 |
| 摘要： | 本发明提出一种基于X射线粉末衍射技术的β‑HMX晶型纯度检测方法，采用X射线粉末衍射技术结合化学计量学偏最小二乘法建立β‑HMX晶型纯度定量校正模型及相应的晶型纯度测试方法。本发明基于多元数据分析方法，可在交叉、重叠的光谱中提取有效信息，适用于无独立特征谱峰的晶型定量分析；能在10min～15min时间内准确测定β‑HMX晶型纯度，且样品用量小于50mg，检测过程无需复杂制样，安全、快捷；能够解决合成样品小试阶段、产品事故究因分析等环节中微量样品晶型纯度难以检测的问题，为β‑HMX产品质量控制、生产工艺和长储过程的晶型稳定性研究提供可靠、高效的检测依据。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安近代化学研究所 |
| 发明人： | 王明;潘清;陈智群;李晓宇;栾洁玉 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-12T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910864181.5 |
| 公开号： | CN110579500A |
| 代理机构： | 中国兵器工业集团公司专利中心 |
| 代理人： | 祁恒 |
| 分类号： | G01N23/207(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 710065 陕西省西安市雁塔区丈八东路168号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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