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一种基于中红外漫反射光谱技术的β-HMX晶型纯度检测方法
| 专利名称： | 一种基于中红外漫反射光谱技术的β-HMX晶型纯度检测方法 |
| 摘要： | 本发明属于技术领域，具体涉及一种基于中红外漫反射光谱技术结合化学计量学偏最小二乘法的β‑HMX晶型纯度检测方法。该检测方法采用中红外漫反射光谱技术结合化学计量学偏最小二乘法建立β‑HMX晶型纯度定量校正模型及相应的晶型纯度测试方法。所建多变量校正模型可以分析重叠光谱和宽谱带，适用于含有α‑HMX杂质晶型的β‑HMX产品的晶型纯度分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安近代化学研究所 |
| 发明人： | 潘清;王明;苏鹏飞;王民昌;陈智群 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-03T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910829216.1 |
| 公开号： | CN110530817A |
| 代理机构： | 中国兵器工业集团公司专利中心 |
| 代理人： | 祁恒 |
| 分类号： | G01N21/3563(2014.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 710065 陕西省西安市雁塔区丈八东路168号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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