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一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法
| 专利名称： | 一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法，主要涉及分析化学仪器应用技术领域，包括样品采集编辑，数据预处理，样品分析，模型校正，设备安装，样品预测，预测结果输出，采用化学计量学，如果样品的组成相同，则其光谱也相同，反之亦然。如果我们建立了光谱与待测参数之间的对应关系(称为分析模型)，只要测得样品的光谱，通过光谱和上述对应关系，就能很快得到所需要的质量参数数据。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 山东金璋隆祥智能科技有限责任公司 |
| 发明人： | 邹振民;董海平;孙茂;耿龙飞;朱传港 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-03-18T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910205279.X |
| 公开号： | CN109738342A |
| 代理机构： | 济南瑞宸知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 吕艳芹 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 250000 山东省济南市高新区经十路7000号汉峪金谷A3区402 |
| 主权项： | 1.一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法，其特征在于：包括， 步骤1，样品采集编辑，分别采用静态测样方式采集I目和II目的近红外光谱； 步骤2，数据预处理，包括模型转移，和差计算，剪切、平均，MSC、SNV，归一化、中心化、平滑、微分； 步骤3，样品分析，包括波长特征分析、样品集合分析，所述波长特征分析包括标准偏差、相关系数，然后进行波段选择，所述样品集合分析包括化学指标特征分布、PCA\PLS特征提取，然后进行聚类分析、样品集合划分、界外样品识别、样品聚集分布； 步骤4，模型校正，分别采用定量校正方法、定性建模方法，然后校正计算，进一步进行校正结果统计分析，最后保存模型； 步骤5，设备安装，在生产设备上开孔，把法兰圈焊接到上面，再把篮宝石视窗和法兰板固定在法兰圈上，最后再安装上AOTF近红外光谱仪。 步骤6，样品预测，首先载入模型、导入光谱，然后进行预测，分别采用静态测样方式采集I目和II目的近红外光谱，比较光谱差异。然后采用动态旋转测样方式采集I目和II目的近红外光谱，比较光谱差异，最后，进行预测结果统计分析。 步骤7，预测结果输出，输出检测结果。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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