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一种用于确定飞机表面质量缺陷影响的结构及其方法
| 专利名称： | 一种用于确定飞机表面质量缺陷影响的结构及其方法 |
| 摘要： | 本申请属于飞机表面质量缺陷影响确定技术领域，具体涉及一种用于确定飞机表面质量缺陷影响的结构，包括：测力主体段，基于对质量缺陷敏感的飞机表面的典型剖面进行制造；表面质量缺陷模拟组件，在测力主体段上设置，以模拟飞机表面的质量缺陷。此外，还涉及一种用于确定飞机表面质量缺陷影响的结方法，包括：将上述的用于确定飞机表面质量缺陷影响的结构至于风洞中进行风洞试验，得到第一风洞试验结果；将上述的用于确定飞机表面质量缺陷影响的结构的测力主体段置于风洞中进行风洞试验，得到第二风洞试验结果；对比第一风洞试验结果、第二风洞试验结果对应得到飞机表面质量缺陷的气动影响。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 辽宁;21 |
| 申请人： | 中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所 |
| 发明人： | 郭旺柳;张沛良;孙智孝;刘锦通;衣然 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-20T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910906927.4 |
| 公开号： | CN110589020A |
| 代理机构： | 北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 郭鹏鹏 |
| 分类号： | B64F5/60(2017.01);B;B64;B64F;B64F5 |
| 申请人地址： | 110035 辽宁省沈阳市皇姑区塔湾街40号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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