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多面体检验进给器和多面体检验设备
| 专利名称： | 多面体检验进给器和多面体检验设备 |
| 摘要： | 一种多面体检验设备(10)按照包括多面体检验进给器(12)的方式构制，所述多面体进给器具有通道构件，用于检验立方体芯块(W)的表面。多面体进给器(12)形成有V形槽，并包括两个设置在通道构件(22)中间的转动进给部分25A和25B。转动进给部分25A和25B分别具有相继的V形、U形和V形截面形状的槽。通道构件(22)设有一个射出器(18)，用于以彼此疏远的状态逐一移动芯块(W)，还设有用于检验芯块W表面的摄像机(13A至13D)，以及用于按照检验结果回收芯块的回收装置(30)。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 株式会社东洋;琳得科株式会社 |
| 发明人： | 木村孝;木川一洋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2001-12-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN01803626.0 |
| 公开号： | CN1429171 |
| 代理机构： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
| 代理人： | 张祖昌 |
| 分类号： | B65G47/22 |
| 申请人地址： | 日本山形县 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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