原文传递
降低阵列电性测试机静电产生的方法
| 专利名称： | 降低阵列电性测试机静电产生的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，所述方法包括：设置支架的上升时间；控制所述支架凸出承载平台；分离玻璃于所述承载平台；移动龙门架于所述玻璃上方；以及控制离子棒吹向所述玻璃。本发明通过增加支架上升时间以及移动龙门架于玻璃上方，使离子棒作用于玻璃的时间增加，从而达到降低静电产生及避免击伤面板的目的。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 发明人： | 张文泽 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-20T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910781320.8 |
| 公开号： | CN110596147A |
| 代理机构： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 黄威 |
| 分类号： | G01N21/958(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
