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一种高通量测量荧光磷光寿命的转盘和装置
| 专利名称： | 一种高通量测量荧光磷光寿命的转盘和装置 |
| 摘要： | 一种用于高通量测量荧光磷光寿命的转盘和装置，可以用于高通量的荧光磷光寿命测量，测量方法是将激发光聚焦于一束，照射与转盘边缘一处，当转盘受电机驱动转动时，转盘上的光通道可将照射在转盘边缘的激发光引入到样品槽中，用于激发样本，各样品槽的样本被激发后在空间旋转，使不同延迟时间的发光信号在空间上分离，通过照相机拍照分析可获得样本的荧光磷光寿命。该方法实现了使用连续光源同时测量多个样本的荧光磷光寿命；由于激发光具有较高功率密度，可以测量低浓度样本和弱发光的样本；将激发光限制在光通道内部传输，可显著降低光源散射背景。此外该方法不需要昂贵的脉冲光源、高速探测器和复杂的锁相控制，具有成本低、仪器简单便携的特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉能斯特科技有限公司 |
| 发明人： | 朱泽策 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-06-22T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-31T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810648769.2 |
| 公开号： | CN110632039A |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 430090 湖北省武汉市汉南区纱帽街周家河村35号 |
| 主权项： | 1.一种用于测量荧光磷光寿命的转盘，其特征在于： 转盘上有多个样品槽，各样品槽距离转盘圆心的距离不等，每个样品槽连接一个光通道，所有光通道分布在转盘上，每个光通道各自独立，相互不干扰； 光通道另外一端连接转盘边缘，用于将照射在转盘边缘的激发光引入光通道，并激发样品槽中的样品； 构成光通道的介质选自空气、光纤、毛细管。 2.如权利要求1所述的转盘，其特征在于：光通道介质为多模光纤。 3.如权利要求1所述的转盘，其特征在于：光通道介质为空气，并且光通道内壁有反射膜。 4.如权利要求1所述的转盘，其特征在于：光通道介质为透明毛细管，毛细管同时作为样品槽。 5.一种荧光磷光寿命测量装置，其特征在于：包括如权利要求1-4所述的任意一种转盘，还包括电机、光源、照相机； 其中，转盘由电机轴连驱动，光源发出的光照射在转盘边缘的某一点上，照相机的镜头与转盘平行，用于拍摄转盘的像。 6.如权利要求5所述的寿命测量装置，其特征在于：光源和转盘之间还包括聚光透镜，用于将光源的光聚焦到转盘边缘的某一点上。 7.如权利要求5所述的寿命测量装置，其特征在于：光源选自激光二极管或LED光源。 8.如权利要求5所述的寿命测量装置，其特征在于：光通道介质为毛细管；对液体样本进行测量时，液体样本置于毛细管中，可以先离心，再检测，实现离心分离和寿命检测的一体化。 9.如权利要求5所述的寿命测量装置，其特征在于：相机和转盘之间还包括成像透镜，用于将转盘的像放大，再拍照。 10.如权利要求5所述的寿命测量装置，其特征在于：照相机镜头前还包括滤光片，用于将激发光滤除。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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