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原文传递一种热电参数测试装置

专利名称：	一种热电参数测试装置
摘要：	本实用新型公开了一种热电参数测试装置，分别在上导热块和下导热块上插设加热片以及制冷管，在待测试样品上下表面产生变动的或恒定的温差，并通过插接在上导热块和下导热块内的热电偶测量出待测试样品上下表面的温差，通过Seebeck检测线测量样品上下表面的电压，从而有效的计算出待测试样品的赛贝克系数，且利用四芯探针穿过真空腔体的上盖、上导热块和上陶瓷片顶在待测试样品上，采用四探针法测量待测试样品的电阻率，本实用新型结构简单，可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	安徽;34
申请人：	合肥科晶材料技术有限公司
发明人：	邾根祥;朱沫浥;王亚东;李超
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201920641925.2
公开号：	CN209878636U
代理机构：	合肥东邦滋原专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	张海燕
分类号：	G01N25/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N25
申请人地址：	230000 安徽省合肥市长江西路669号华源实业园
主权项：	1.一种热电参数测试装置，其特征在于：包括真空腔体(1)，所述真空腔体(1)内设有相对的上导热块(2)和下导热块(3)，所述上导热块(2)和下导热块(3)之间设有相对的上陶瓷片(4)和下陶瓷片(5)，所述上陶瓷片(4)和下陶瓷片(5)之间形成放置待测试样品的样品台(6)；所述上导热块(2)上方连接有空心的上支柱(7)，所述上支柱(7)穿过真空腔体(1)的上盖连接有接线板(8)，所述上支柱(7)内部设有四芯探针(11)，所述四芯探针(11)一端连接接线板(8)，另一端依次穿过上导热块(2)和上陶瓷片(4)，与待测试样品接触；所述上导热块(2)和下导热块(3)上均设有一个插槽和两个相对的插孔，所述上导热块(2)和下导热块(3)上的插孔内均插接有热电偶(12)，所述上导热块(2)上的插槽内插接有加热片(13)，所述下导热块(3)的插槽内插接有制冷管(14)；所述下导热块(3)通过保温层(15)连接真空腔体(1)的底座，所述样品台(6)一侧设有Seeback检测线(16)。 2.根据权利要求1所述的一种热电参数测试装置，其特征在于：所述真空腔体(1)的上盖上设有卡箍(9)，所述上支柱(7)插入卡箍(9)内与卡箍(9)活动连接，并通过安装在卡箍(9)一侧的锁紧螺栓(10)固定。 3.根据权利要求1所述的一种热电参数测试装置，其特征在于：所述上导热块(2)和上陶瓷片(4)中部均设有探针通孔。
所属类别：	实用新型