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原文传递真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机

专利名称：	真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机
摘要：	本发明提供一种真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，包括检测工作台，所述检测工作台上设有上料机构、运料机构、检测机构、激光打标机构、下料机构以及控制机构。本发明真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机自动化程度高，能够满足流水线批量作业需求，工作效率高、节省大量人力且检测精度高，应用前景广阔。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳精创视觉科技有限公司
发明人：	谢水龙;欧海宏;康政纲
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201910679918.6
公开号：	CN110632078A
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518109 广东省深圳市龙华区龙华街道和平东路港之龙科技园科技孵化中心6楼E、I区
主权项：	1. 一种真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，包括检测工作台，其特征在于，所述检测工作台上设有上料机构、运料机构、工装治具拆卸机构、检测机构、激光打标机构、下料机构以及控制机构，其中：所述上料机构是在所述运料机构前端设有一入料拉带，人工将挂镀架上待测样品的挂镀工装治具放入拉带，经上料机械手将工装治具放入环形导轨载具；所述运料机构是在所述检测工作台上设有环形导轨，所述环形导轨上所有载具与各工位一一对应，所述导轨载具上可同时放置待测样品挂镀工装治具和待测样品，所述环形导轨底部设有驱动所述环形导轨转动的转盘驱动马达，所述转盘驱动马达经传动装置连接所述环形导轨，所述转盘驱动马达连接所述控制机构；所述工装治具拆卸机构是架设在待测样品工装治具放入环形导轨载具后，对样品的挂镀工装治具进行拆卸，卸工装治具弹簧，回收上盖，将待测样品从工装治具内取出转移到环形导轨载具吸附板上；所述检测机构是在所述运料机构外周边设有设有光源、摄像元件及处理器，所述摄像元件对所述运料机构运送的待测样品进行图像采集、并将采集的图像传送至所述处理器，所述处理器对所述摄像元件传送的图像进行计算处理获得待测样品的外观缺陷信息并判断待测产品是否合格；所述激光打标机构是架设在所述检测机构后端，对检测后的合格样品背面进行激光打标；所述下料机构是在所述激光打标机构后端设有第一吸附单元及下料托盘，检测后的所述合格样品由所述吸附元件非接触式吸附下料，所述吸附元件将所述合格样品吸附至下料托盘，所述下料托盘将所述合格样品由下料排出口下料；所述控制机构分别电性连接所述上料机构、运料机构、检测机构、激光打标机构以及下料机构，用于对所述上料机构、运料机构、检测机构、激光打标机构以及下料机构进行实时控制。 2.根据权利要求1所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述运料机构前端设有工装治具拆卸机构，对所述待测样品上的挂镀工装治具进行拆卸，便于检测工装治具内样品。 3.根据权利要求2所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述工装治具拆卸机构包括弹簧拆卸机构以及盖体回收机构。 4.根据权利要求3所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述弹簧拆卸机构上设有弹簧夹紧单元以及第一驱动单元，所述弹簧夹紧单元夹紧待测样品工装治具上弹簧，所述驱动单元带动所述弹簧夹紧单元产生位移，所述位移的方向为使得所述弹簧释放的方向。 5.根据权利要求1或4所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述检测机构包括第一缺陷检测机构、第二缺陷检测机构以及第三缺陷检测机构依次设置在所述环形导轨外周。 6.根据权利要求5所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述第一缺陷检测机构包括一线光源、第一镜头和面阵相机。 7.根据权利要求5所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述第二缺陷检测机构、第三缺陷检测机构均包括一同轴光源、第二镜头和相机。 8.根据权利要求5所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述检测机构前端设有待测样品转移机构，所述待测样品转移机构包括第二吸附单元和第二驱动单元，所述吸附单元非接触式吸取待测样品，所述第二驱动单元控制所述吸附单元产生位移，所述位移方向为转移待测样品的方向。 9.根据权利要求8所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述导轨载具包括固定在载具固定板上的待测样品工装治具夹紧机构、第一顶升驱动机构以及待测样品吸附板，所述待测样品转移机构控制待测样品由所述产品工装治具夹紧机构转移至所述待测样品吸附板上。 10.根据权利要求5所述的真空镀膜产品外观缺陷检测及激光打标一体机，其特征在于，所述第一缺陷检测机构和/或所述第二缺陷检测机构和/或所述第三缺陷检测机构上设有待测样品位置校正单元，所述待测样品位置校正单元包括第二顶升驱动机构和第三吸附单元，所述第三吸附单元吸取待测样品，所述第二顶升驱动机构控制所述第三吸附单元产生位移。
所属类别：	发明专利