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原文传递阻抗测量半导体电路和血糖水平仪

专利名称：	阻抗测量半导体电路和血糖水平仪
摘要：	本发明涉及一种阻抗测量半导体电路和血糖水平仪。需要提供一种能够提高测量样品的阻抗的精确度、减小模拟前端LSI芯片中的面积、以及减小所述LSI芯片大小的阻抗测量半导体电路和血糖水平仪。根据实施例，一种阻抗测量半导体电路包括：运算放大器；电阻，所述电阻耦合在所述运算放大器的负输入端子与输出端子之间；D/A转换器，所述D/A转换器耦合至正输入端子；开关；A/D转换器，所述A/D转换器与所述运算放大器的所述输出端子和样品的一侧端子耦合，并且测量来自所述运算放大器的输出电压和一侧端子电压；以及控制器，所述控制器基于由所述A/D转换器测量的一侧端子电压来控制来自所述D/A转换器的输出电压。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	瑞萨电子株式会社
发明人：	渡边邦彦;枡本岳;大门一夫
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-11T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201811182896.4
公开号：	CN109682876A
代理机构：	北京市金杜律师事务所
代理人：	王茂华
分类号：	G01N27/327(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	日本东京
主权项：	1.一种阻抗测量半导体电路，所述阻抗测量半导体电路测量具有一侧端子和不同侧端子的样品的阻抗，所述阻抗测量半导体电路包括：运算放大器；电阻，所述电阻耦合在所述运算放大器的负输入端子与所述运算放大器的输出端子之间； D/A转换器，所述D/A转换器耦合至所述运算放大器的正输入端子；开关，所述开关被放置在所述一侧端子与所述负输入端子之间； A/D转换器，所述A/D转换器与所述运算放大器的输出端子和所述一侧端子耦合，并且测量来自所述运算放大器的输出电压和作为所述一侧端子的端子电压的一侧端子电压；以及控制器，所述控制器基于由所述A/D转换器测量的所述一侧端子电压来控制来自所述D/A转换器的输出电压，其中，作为所述不同侧端子的端子电压的不同侧端子电压被设置为预定电压；以及其中，来自所述运算放大器的输出电压被用于测量所述样品的阻抗。 2.根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述不同侧端子电压被接地以被设置为预定电压。 3.根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器在所述一侧端子电压低于预定目标值的情况下增加来自所述D/A转换器的输出电压，并且在所述一侧端子电压高于或者等于所述目标值的情况下减少来自所述D/A转换器的输出电压。 4.根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路，其中，提供有所述样品；以及其中，所述开关被放置在所述样品中的每个样品的一侧端子与所述负输入端子之间。 5.根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路，进一步包括：缓冲放大器，所述缓冲放大器包括彼此耦合的输出端子和负输入端子，并且在所述缓冲放大器的正输入端子处被供应有参考电压，其中，所述不同侧端子电压通过被耦合至所述缓冲放大器的输出端子来被设置为预定电压。 6.根据权利要求5所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器控制所述D/A转换器以使所述一侧端子电压低于所述不同侧端子电压。 7.根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述运算放大器、所述A/D转换器、所述D/A转换器和所述开关中的至少一个包括形成在半导体衬底上的CMOS结构。 8.一种阻抗测量半导体电路，所述阻抗测量半导体电路测量具有一侧端子和不同侧端子的样品的阻抗，所述阻抗测量半导体电路包括：运算放大器；电阻，所述电阻耦合在所述运算放大器的负输入端子与所述运算放大器的输出端子之间；第一D/A转换器，所述第一D/A转换器耦合至所述运算放大器的正输入端子；开关，所述开关被放置在所述一侧端子与所述运算放大器的负输入端子之间； A/D转换器，所述A/D转换器与所述运算放大器的输出端子和所述一侧端子耦合，并且测量来自所述运算放大器的输出电压和作为所述一侧端子的端子电压的一侧端子电压；以及缓冲放大器，所述缓冲放大器包括彼此耦合的输出端子和负输入端子；第二D/A转换器，所述第二D/A转换器耦合至所述缓冲放大器的正输入端子；以及控制器，所述控制器基于所述一侧端子与所述不同侧端子之间的端子到端子电压，来控制来自所述第一D/A转换器的输出电压和来自所述第二D/A转换器的输出电压中的至少一个，所述端子到端子电压是通过使用由所述A/D转换器测量的所述一侧端子电压来计算的，其中，来自所述运算放大器的输出电压被用于测量所述样品的阻抗。 9.根据权利要求8所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器控制所述第一D/A转换器以使所述一侧端子电压高于作为所述不同侧端子的端子电压的不同侧端子电压。 10.根据权利要求9所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器在所述端子到端子电压低于预定目标值的情况下增加来自所述第一D/A转换器的输出电压，并且在所述端子到端子电压高于或者等于所述目标值的情况下减少来自所述第一D/A转换器的输出电压。 11.根据权利要求8所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器控制所述第一D/A转换器以使所述一侧端子电压低于作为所述不同侧端子的端子电压的不同侧端子电压。 12.根据权利要求11所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器在所述端子到端子电压低于预定目标值的情况下减少来自所述第一D/A转换器的输出电压，并且在所述端子到端子电压高于或者等于所述目标值的情况下增加来自所述第一D/A转换器的输出电压。 13.根据权利要求8所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器控制所述第二D/A转换器以使所述一侧端子电压高于作为所述不同侧端子的端子电压的不同侧端子电压。 14.根据权利要求13所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器在所述端子到端子电压低于预定目标值的情况下减少来自所述第二D/A转换器的输出电压，并且在所述端子到端子电压高于或者等于所述目标值的情况下增加来自所述第二D/A转换器的输出电压。 15.根据权利要求8所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器控制所述第二D/A转换器以使所述一侧端子电压低于作为所述不同侧端子的端子电压的不同侧端子电压。 16.根据权利要求15所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述控制器在所述端子到端子电压低于预定目标值的情况下增加来自所述第二D/A转换器的输出电压，并且在所述端子到端子电压高于或者等于所述目标值的情况下减少来自所述第二D/A转换器的输出电压。 17.根据权利要求8所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述运算放大器、所述A/D转换器、所述第一D/A转换器、所述第二D/A转换器和所述开关中的至少一个包括形成在半导体衬底上的CMOS结构。 18.根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路，其中，所述样品是包括其电极被施加有酶的传感器的测试条。 19.根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路，进一步包括：操作部，所述操作部通过测量的所述阻抗来计算血糖水平。 20.一种血糖水平仪，所述血糖水平仪包括根据权利要求1所述的阻抗测量半导体电路。
所属类别：	发明专利