详情

原文传递一种用于测试折射率的传感器

专利名称：	一种用于测试折射率的传感器
摘要：	本实用新型公开了一种用于测试折射率的传感器，涉及微纳尺度的传感器件，属光信息领域；该传感器包括金纳米块阵列模组、用于封装所述金纳米块阵列模组的壳体及500~1500 nm波段高透的薄膜，所述金纳米块阵列模组封装于所述壳体中，所述薄膜覆盖在壳体表面用于密封，其特征在于所述的金纳米块阵列模组依次由衬底层、金薄膜层、聚电解质层、金纳米块阵列层复合组成；本方案制备的折射率传感器利用该结构激发等离子激元共振，利用峰位随背景折射率变化而出现明显移动实现了对环境折射率的传感探测，金材质的稳定性保证了该传感器的性能稳定。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州大学
发明人：	吴绍龙;李亮;李孝峰;李刘晶;秦琳玲
专利状态：	有效
申请日期：	2018-09-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201821462341.0
公开号：	CN208795654U
代理机构：	苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	王利斌
分类号：	G01N21/41(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	215137 江苏省苏州市相城区济学路8号
主权项：	1.一种用于测试折射率的传感器，包括金纳米块阵列模组、用于封装所述金纳米块阵列模组的壳体及500～1500nm波段高透的薄膜，所述金纳米块阵列模组封装于所述壳体中，所述薄膜覆盖在壳体表面用于密封，其特征在于所述的金纳米块阵列模组依次由衬底层、金薄膜层、聚电解质层、金纳米块阵列层复合组成；其中金薄膜层通过蒸镀沉积附着于衬底层上，聚电解质层通过逐层自组装附着于金薄膜表面，金纳米块阵列层通过静电场引力吸附于所述聚电解质层表面。 2.根据权利要求1所述的用于测试折射率的传感器，其特征在于：所述金纳米块阵列层中的金纳米块几何形貌为立方块，其与聚电解质层为面接触。
所属类别：	实用新型