专利名称: |
一种用于DR检测套筒灌浆连接质量的密实度定量方法 |
摘要: |
本发明记载了一种用于DR检测套筒灌浆连接质量的密实度定量方法,包括:对未灌浆的空芯套筒进行DR数字成像,并放置参考试块;对原始图像的待检测区域,参考试块的参考试块区域,以及套筒之外的某个固定区域的灰度值进行测量;获取成品图像,对完成灌浆的套筒进行DR数字成像,并获得被检套筒的成品图像;对成品图像上的目标区域进行灰度值检测,并获取目标区域的空芯率,从而通过空芯率来体现待测量的密实度。由于采用了上述技术,本发明通过在合理布置参考试块的基础上,结合一定的特殊方式,可以对套筒灌浆的连接质量进行精确的测量,具备操作简单、逻辑清晰、结果直观、易于推广等优点,符合国家的产业发展政策。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
上海众随科技有限责任公司 |
发明人: |
朱春旺 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-02T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-03T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910001993.7 |
公开号: |
CN109709100A |
代理机构: |
上海昱泽专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
孟波 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
201306 上海市浦东新区泥城镇云汉路979号2楼 |
主权项: |
1.一种用于DR检测套筒灌浆连接质量的密实度定量方法,其特征在于,包括: 获取原始图像;至少包括对未灌浆的空芯套筒进行第一次DR数字成像,并在成像板前放置若干个参考试块的步骤,以此获得套筒在空芯状态且带有参考试块的原始图像; 测量灰度值;至少包括对原始图像的待检测区域,参考试块的参考试块区域,以及套筒之外的某个固定区域的灰度值进行测量的步骤; 获取成品图像;至少包括对完成灌浆的套筒进行第二次DR数字成像,并获得被检套筒的成品图像的步骤; 获取目标区域的空芯率;至少包括对成品图像上的目标区域进行灰度值检测,并获取目标区域的空芯率的步骤,以此通过空芯率来体现待测量的密实度。 2.根据权利要求1所述的密实度测量方法,其特征在于,在测量灰度值的步骤中,分别测量: 原始图像上的待检测区域A的灰度值H1, 参考试块的参考试块区域B的灰度值H2,以及 套筒外的某一固定区域C的灰度值H0; 同时设定: 灰度差Δ12=H1-H2,以此表示参考试块区域B的厚度差σb; 灰度差Δ10=H1-H0,以此表示空芯率φa为100%时的灰度差; 灰度差Δ20=H2-H0,以此表示由于增加了厚度差σb的灌浆料而引起的灰度变化,以及 空芯率φb=(2y-σb)/2y。 3.根据权利要求2所述的密实度测量方法,其特征在于,进一步测量: 参考试块的参考试块区域D的灰度值H3; 同时设定: Δ30=H3-H0,以此表示参考试块区域D的厚度差σd;以及 空芯率φd=(2y-σd)/2y。 4.根据权利要求3所述的密实度测量方法,其特征在于,在获取目标区域的空芯率时,先测量成品图像上任一目标区域的灰度值Hx,再将Hx与H0之差Δ代入所述灌浆料的空芯率φ与灰度差Δ的关系曲线φ=kΔ±b,进而换算出套筒内任何一点的空芯率φx。 5.根据权利要求4所述的密实度测量方法,其特征在于,密实度通过空芯率φx=(2y-σx)/2y的百分比值进行表示。 6.根据权利要求1-5中任一项所述的密实度测量方法,其特征在于,在获取原始图像的步骤中,第一次DR数字成像时放置的参考试块的数量为2-3个。 7.根据权利要求6所述的密实度测量方法,其特征在于,所述参考试块为长方形结构。 8.根据权利要求7所述的密实度测量方法,其特征在于,所述参考试块的长为150mm,宽为20mm。 9.根据权利要求8所述的密实度测量方法,其特征在于,所述参考试块的厚度为3、5、8、D/2mm。 10.根据权利要求6所述的密实度测量方法,其特征在于,所述参考试块与灌浆料为同材质结构。 |
所属类别: |
发明专利 |