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原文传递分析装置以及定位方法

专利名称：	分析装置以及定位方法
摘要：	本发明涉及一种分析装置以及定位方法，包括：导入部，使用包含基片和盒的分析工具，包含试样的分析工具被导入到导入部，基片具备试样在其中泳动的毛细管，盒具备液体槽且在铅垂方向与基片重叠；设置部，在导入部中在铅垂方向上支承分析工具并设置在设置部；推入部件，通过推入部件推入设置于设置部的分析工具的相对于铅垂方向的水平方向的一侧面；接触部件(定位销)，与设置于设置部的分析工具的水平方向上的一侧面的相反侧的另一侧面对置，并与通过推入部件推入的分析工具的另一侧面接触，并且进行水平方向的定位；以及测定部件，测定被导入到导入部的分析工具的试样的成分。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	爱科来株式会社
发明人：	山本明广;北村茂;志智直人
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-07T00:00:00+0800
申请号：	CN201811258823.9
公开号：	CN109724926A
代理机构：	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人：	张永玉
分类号：	G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本京都府
主权项：	1.一种分析装置，包括：导入部，使用包含基片和盒的分析工具，包含试样的所述分析工具被导入到所述导入部，所述基片具备所述试样在其中泳动的毛细管，所述盒具备液体槽且在铅垂方向与所述基片重叠；设置部，在所述导入部中在所述铅垂方向上支承所述分析工具而设置于所述设置部；推入部件，通过所述推入部件推入设置于所述设置部的所述分析工具的相对于所述铅垂方向的水平方向的一侧面；接触部件，与设置于所述设置部的所述分析工具的所述水平方向上的一侧面的相反侧的另一侧面对置，并与通过所述推入部件推入的所述分析工具的所述另一侧面接触，并且进行所述水平方向的定位；以及测定部件，测定被导入到所述导入部的所述分析工具的所述试样的成分，所述接触部件与所述基片接触。 2.根据权利要求1所述的分析装置，其中，所述接触部件包括凸部，所述凸部嵌合到形成于所述分析工具的所述另一侧面的凹部。 3.根据权利要求2所述的分析装置，其中，所述凸部是从所述导入部的设置所述分析工具的设置部突出的销。 4.根据权利要求2或3所述的分析装置，其中，所述凹部具有倾斜面，所述倾斜面相对于所述分析工具向所述导入部的导入方向倾斜，所述凸部被所述推入部件推入而移动，由此接触到所述倾斜面。 5.根据权利要求1至3中任一项所述的分析装置，还包括：倾斜检测部，检测被导入到所述导入部的所述分析工具相对于水平方向的倾斜。 6.根据权利要求5所述的分析装置，其中，所述倾斜检测部具备多个倾斜检测杆，所述多个倾斜检测杆与所述导入部中倾斜的所述分析工具接触。 7.一种定位方法，其中，对于分析工具，推入所述分析工具的相对于铅垂方向的水平方向的一侧面，使所述分析工具的所述水平方向上的所述一侧面的相反侧的另一侧面与接触部件接触，由此进行针对所述分析工具的定位，所述分析工具包括基片和盒，所述基片具备试样在其中泳动的毛细管，所述盒具备液体槽且在所述铅垂方向与所述基片重叠，所述分析工具被导入到导入部，并且在铅垂方向上被支承于所述导入部的设置部。 8.根据权利要求7所述的定位方法，其中，在针对被导入到所述导入部的所述分析工具检测出相对于水平方向没有倾斜的状态之后，进行所述定位。
所属类别：	发明专利