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一种基于多模板匹配的PCB板缺陷定位方法
| 专利名称： | 一种基于多模板匹配的PCB板缺陷定位方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于多模板匹配的PCB板缺陷定位方法，通过对模板图像分割，并根据分割后的小模板图像特征来设置相对于的匹配模板，此方法可以极大的减少传统模板匹配中的误差，通过多模板匹配还能进一步减小实际图像变形带来的累积误差，并在模板匹配后对匹配后的区域进行越界判断和自动像素填充处理，此方法也有效的解决越界后造成缺陷检测偏差出现的问题；通过本方法可以提高PCB板检测前期的定位精度，较小实际图像同模板图的累积偏差，也有效的提高了检测的效率和检测精度，真正实现了PCB检测流程的高精度定位和匹配等一系列检测要求。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 |
| 发明人： | 魏登明;王华龙;张璐;张鹏中;张美杰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-02-01T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-07T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910102845.4 |
| 公开号： | CN109724988A |
| 代理机构： | 广州胜沃园专利代理有限公司 |
| 代理人： | 张帅 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 528225 广东省佛山市南海高新区佛高科技智库中心A座4楼 |
| 主权项： | 1.一种基于多模板匹配的PCB板缺陷定位方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，将模板图像分成N个小模板图像； S2，取一个小模板图像进行二值化处理； S3，判断二值化后的小模板图像是否全黑或全白； S4，全黑或全白条件下，将小模板图像坐标赋值给(x,y)，非全黑或全白条件下，判断二值化小模板图像是否有明显轮廓； S5，步骤S4判断中有明显轮廓情况下，以小模板图创建形状匹配模板； S6，步骤S4判断中无明显轮廓情况下，以小模板图创建灰度匹配模板； S7，按照步骤S5、S6中的模板在待检测图中进行模板匹配寻找，如果找到匹配区域，将返回值(row1,column1)赋值给(x,y)如果没找到匹配区域，将(x1,y1)赋值给(x,y)； S8，以坐标(x,y)为中心，在待检测图上扣取尺寸为(N1+100)*(N2+100)的图像； S9，判断扣取图像是否超过待检测图的边界，如果没有越界则不处理； S10，如果越界，则将超出边界的区域按照边界像素灰度值进行填充； S11，最后将扣取图像跟小模板图像进行差分处理，并结合后续的缺陷分割算法提取缺陷信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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