专利名称: | 一种基于机器视觉的料位测量方法和装置 |
摘要: | 本发明涉及一种基于机器视觉的非接触式连续测量小颗粒状物质料位的高可信度方法及 其装置,属物位测量的技术领域。该装置由特殊点光源、图像采集机、机器视觉模块等组成, 图像采集机采集由点光源发射出的光束在物料表面形成的高亮度光圆图像,通过机器视觉模 块采用验证型光圆检测算法进行分析和处理,计算出光圆的直径或面积大小进而获得料位值, 经D/A转换成4-20mA信号输出,同时该值与压缩的现场实景JPEG图像编码后形成串行信 号输出,另外还能将图像采集机采集的原始图像信号输出。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 上海;31 |
申请人: | 高幼年;沈文忠 |
发明人: | 高幼年;沈文忠 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2007-03-23T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200710038493.8 |
公开号: | CN101270981 |
分类号: | G01C11/00(2006.01)I |
申请人地址: | 200083上海市虹口区赤峰路610号1903室 |
所属类别: | 发明专利 |