专利名称: |
采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法 |
摘要: |
本发明涉及化学物相分析技术领域,具体地指一种采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法。该方法包括(1)试样制备(2)仪器设备与测试条件(3)测试条件(4)分析步骤(5)数据处理等步骤。本发明采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法,用于掺锡氧化铟粉分析中,将得到的掺锡氧化铟粉样品X射线衍射数据与衍射的PDF卡片库中标准谱图进行比较进而确定样品中所含的物相成分。其操作简单可控,同时结果准确、可靠;可在此基础上,建立掺锡氧化铟粉物相分析行业标准,从而促进掺锡氧化铟粉行业的健康发展。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广西;45 |
申请人: |
广西壮族自治区冶金产品质量检验站 |
发明人: |
黄肇敏;胡永玫;韦莉;赖馥馨;黄一帆;刘平;何贵香;邓卫利;黎羿合;李凤;韦猛;周素莲;林葵;李健;黎颖;罗艳;聂小明 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-03T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-28T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910267146.5 |
公开号: |
CN109813741A |
代理机构: |
南宁市来来专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
来光业 |
分类号: |
G01N23/207(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
530023 广西壮族自治区南宁市兴宁区长堽路40号 |
主权项: |
1.一种采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法,其特征在于,包括以下步骤: (1)试样制备:向玻璃样品板中加入适量样品,将样品压实、压平,使衍射面的样品表面平整、疏密度相同、且衍射面与样品面在同一平面; (2)仪器设备与测试条件: 仪器:多晶X射线粉末衍射仪,衍射仪的综合稳定度应优于1%;环境条件:工作环境温度10℃~35℃,环境相对湿度30%~80%; (3)测试条件: Cu靶,波长1.54178Å,X光管管压40 kV,管流40 mA,θ、2θ联合驱动方式,扫描范围(2θ)20°~70°连续扫描,扫描步长0.026°,每步停留时间20.4s,发散狭缝1/4°,散射狭缝1/2°,接收狭缝7.5 mm;也可以通过能够与本装置保持同等检出精度的装置来测试; (4)分析步骤: ①按照仪器操作规程开机,并使主机预热15~30min; ②在测试条件下按照仪器操作规程进行扫描测定; ③独立的进行两次测定; (5)数据处理 对测试的结果用分析软件进行处理,并与衍射的PDF卡片库中标准谱图进行比较进而确定样品中所含的物相成分。 2.根据权利要求1所述的采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法,其特征在于,步骤(1)中所述的样品其粒度为300目以下,且样品经105±5 ℃干燥 1 h,置于干燥器中冷却至室温处理得到。 |
所属类别: |
发明专利 |