详情

原文传递一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法

专利名称：	一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法
摘要：	本发明属于信息提取技术领域，具体涉及一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，包括：步骤一：调整待筛选对象位置；步骤二：光谱数据预处理；步骤三：光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据；步骤四：采集特定波段高光谱栅格影像像元数据；步骤五：计算待测物品质系数H；步骤七：分析待测物品质系数H。本发明通过利用光谱数据处理方法对红富士苹果的腐烂程度进行自动筛选、判别，提高了数据处理速度及信息提取的精度，降低了人为判断的误差。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	核工业北京地质研究院
发明人：	杨燕杰;杨国防;邱骏挺;赵英俊
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201811583297.3
公开号：	CN109827908A
代理机构：	核工业专利中心
代理人：	闫兆梅
分类号：	G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100029 北京市朝阳区小关东里10号院
主权项：	1.一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：包括：步骤一：调整待筛选对象位置；步骤二：光谱数据预处理；步骤三：光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据；步骤四：采集特定波段高光谱栅格影像像元数据；步骤五：计算待测物品质系数H；步骤七：分析待测物品质系数H。 2.根据权利要求1所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤一：调整待筛选对象位置，包括：将待筛选红富士苹果平放，光谱测量仪探头与待筛选红富士苹果距离5cm至10cm,探头不遮挡阳光或人造光源。 3.根据权利要求2所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤二：光谱数据预处理还包括：大气校正，获取样品或地物光谱的反射率数据。 4.根据权利要求3所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤三：光谱数据批量转换为高光谱栅格影像数据，还包括：将光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据，每个高光谱栅格影像像元数据对应一条光谱数据，每条光谱数据对应一个待筛选红富士苹果。 5.根据权利要求4所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤四：采集特定波段高光谱栅格影像像元数据，包括：分别提取特定波段714nm和特定波段375nm的高光谱栅格影像像元数据。 6.根据权利要求5所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤五：计算待测物品质系数H，包括：将特定波段714nm影像像元值的三次方除以特定波段375nm影像像元值得到待测物品质系数H。 7.根据权利要求6所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤六，分析待测物品质系数H，包括：若待测物品质系数H小于2，则红富士苹果为表面腐烂；若待测物品质系数H大于等于2且小于等于10，则红富士苹果存在腐烂趋势，若待测物品质系数H大于10，则红富士苹果为正常苹果。
所属类别：	发明专利