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原文传递 一种基于X射线荧光光谱的锌铁合金镀层铁含量分析方法
专利名称: 一种基于X射线荧光光谱的锌铁合金镀层铁含量分析方法
摘要: 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱的锌铁合金镀层铁含量分析方法,包括:选取同规格同品种的若干块锌铁合金板,每块锌铁合金板取2片样片,其中样片A用ICP法分析铁含量Ci,样片B测量其Alkβ的谱线强度Ii;根据多组Ci与Ii,拟合得到锌铁合金化板中铁含量Ci与Alkβ的谱线强度Ii的关系式;由关系式即可计算出锌铁合金化板镀层中铁的含量。本发明的有益效果为:本发明先测定镀层中铝的X射线荧光强度,再按“铁含量—铝光强度”校准曲线,得出铁的含量,达到应用普通的X射线荧光仪分析合金化板镀层中的铁含量的目的,这种方法大大降低了企业仪器采购成本,避免了盐酸对环境的污染。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 武汉钢铁有限公司
发明人: 沈克;张小凡;余文莉;张兆雄;贾丽晖;吕琦;杨国义;齐郁
专利状态: 有效
申请日期: 2019-03-27T00:00:00+0800
发布日期: 2019-06-18T00:00:00+0800
申请号: CN201910237745.2
公开号: CN109900730A
代理机构: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人: 钟锋;周舒蒙
分类号: G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址: 430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门内
主权项: 1.一种基于X射线荧光光谱的锌铁合金镀层铁含量分析方法,其特征在于,具体包括以下步骤: 步骤一、选取同规格同品种的若干块锌铁合金板,每块锌铁合金板在相邻部位冲出2片大小相同的样片,其中样片A用ICP法分析铁含量Ci,样片B用普通X射线荧光仪测量其Alkβ的谱线强度Ii; 步骤二、分别测得各样片A的Alkβ的谱线强度Ii;以及各样片B中的铁含量Ci; 步骤三、根据多组Ci与Ii,分别以两者为横纵坐标描点并连线,校准曲线并拟合,得到锌铁合金化板中铁含量Ci与Alkβ的谱线强度Ii的关系为: Ci=aIi+b (1) 其中,a、b均为常数; 步骤四、将同品种待测锌铁合金化板冲出样片,用普通X射线荧光仪测量其Alkβ的谱线强度Ii,由公式(1)即可计算出锌铁合金化板镀层中铁的含量。 2.如权利要求1所述的基于X射线荧光光谱的锌铁合金镀层铁含量分析方法,其特征在于,在步骤一中,锌铁合金板中铁含量在8%~14.5%范围内。 3.如权利要求1所述的基于X射线荧光光谱的锌铁合金镀层铁含量分析方法,其特征在于,在步骤二中,各样片测试前,用石油醚擦去样片上的油渍。
所属类别: 发明专利
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