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原文传递一种X射线的检测系统

专利名称：	一种X射线的检测系统
摘要：	本实用新型实施例公开了一种X射线的检测系统，检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器；第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；第一探测器，用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号；准直器，用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；第二探测器，用于接收经准直设备选择后的散射光束信号；处理器，用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号，确定待探测物体的检测结果。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	同方威视技术股份有限公司
发明人：	张丽;陈志强;孙运达;金鑫;常铭;许晓飞
专利状态：	有效
申请日期：	2018-09-18T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201821527807.0
公开号：	CN209014494U
代理机构：	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人：	彭琼
分类号：	G01N23/20008(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项：	1.一种X射线的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待探测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待探测物体的检测结果。 2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述光源发生器的光束信号发射方向为三维笛卡尔坐标系的X轴的正方向，待检测物体的传动方向为三维笛卡尔坐标系的Y轴。 3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述多列光束信号的入射平面是YOZ平面，且在所述YOZ平面上的入射点呈二维离散分布。 4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述多列光束信号的入射点在三维笛卡尔坐标系的Z轴上是等间距排布，且在Y轴上是等间距分布或者不等间距分布。 5.根据权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述Y轴上间距是由所述待检测物体的传动速度、所述第一探测器曝光时间和所述第二探测器曝光时间确定的距离。 6.根据权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述列光束信号的入射点形成的直线与所述Z轴平行。 7.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一探测器包括：至少2个双能透射探测器。 8.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第二探测器包括：至少1个光子计数散射探测器。 9.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一探测器与所述光源发生器正相对。 10.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述准直设备包括：准直器或编码板，所述编码板或所述准直器与所述第二探测器正相对。 11.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第二探测器设置在相邻的两个所述第一探测器之间。
所属类别：	实用新型