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原文传递收集用于预测过敏发病风险的数据的方法

专利名称：	收集用于预测过敏发病风险的数据的方法
摘要：	本发明提供预测婴幼儿对过敏原发生过敏的情况的风险的手段。使用DCP芯片，测定出生后6个月以内的婴儿的试样中的、针对蛋清的IgG1抗体效价和IgE抗体效价，将IgG1抗体效价作为X轴、将IgE抗体效价作为Y轴进行绘图而制作散点图，针对被分为两个区块的数据分布，算出可适用于各个区块的一次函数，得到两种一次函数，基于婴儿属于哪一区块来预测发生过敏的风险。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	应用酵素医学研究所株式会社
发明人：	木户博;苛原诚;铃木宏一
专利状态：	有效
申请日期：	2017-05-11T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-28T00:00:00+0800
申请号：	CN201780028699.4
公开号：	CN109952510A
代理机构：	北京市金杜律师事务所
代理人：	杨宏军;李国卿
分类号：	G01N33/53(2006.01);G;G01;G01N;G01N33
申请人地址：	日本德岛县
主权项：	1.收集数据的方法，其中，分别定量测定从婴儿采集的试样中的针对过敏原的IgG1及IgE的抗体效价，收集用于根据基于预先经统计处理的从IgG1向IgE的免疫球蛋白类别转换的程度而制定的判断基准来预测所述婴儿在婴幼儿期对所述过敏原发生过敏的风险的数据。 2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，使用DCP芯片，定量测定试样中的针对过敏原的IgG1及IgE的抗体效价。 3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，试样为血浆或血清。 4.如权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于，统计处理包含将IgG1抗体效价和IgE抗体效价进行绘图而制作散点图、并利用回归分析而求出的一次函数。 5.如权利要求1～4中任一项所述的方法，其特征在于，预测对过敏原发生过敏的风险的方法包括以下的步骤(a)～(d)：步骤(a)，分别定量测定从婴儿采集的试样中的针对过敏原的IgG1及IgE的抗体效价；步骤(b)，将IgG1抗体效价作为X轴、将IgE抗体效价作为Y轴进行绘图而制作散点图；步骤(c)，利用回归分析，以一次函数的形式算出IgG1抗体效价与IgE抗体效价的相关关系，所述一次函数为(1)适用于对过敏原发生过敏的风险低的婴儿的数据的一次函数1(Y1＝aX1-b，其中，a>0、b>0)、及/或(2)适用于对过敏原发生过敏的风险高的婴儿的数据的一次函数2(Y2＝cX2-d，其中，c>a)；步骤(d)，将属于一次函数1所适用的区块的婴儿预测为对过敏原发生过敏的风险低的婴儿，将属于一次函数2所适用的区块的婴儿预测为对过敏原发生过敏的风险高的婴儿。 6.如权利要求1～5中任一项所述的方法，其特征在于，判断基准中还包含从婴儿采集的试样中的IgG2抗体效价。 7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，判断基准中包含从婴儿采集的试样中的IgG2抗体效价的方法包括以下的步骤(e)～(h)：步骤(e)，分别定量测定从婴儿采集的试样中的针对过敏原的IgG1及IgG2的抗体效价；步骤(f)，将IgG1抗体效价作为X轴、将IgG2抗体效价作为Y轴进行绘图而制作散点图；步骤(g)，利用回归分析，以适用于对过敏原发生过敏的风险低的婴儿的数据的一次函数3(Y3＝eX3-f，其中，e>0)的形式，算出IgG1抗体效价与IgG2抗体效价的相关关系；步骤(h)，将IgG1值显示为比一次函数的X轴截距(IgG1的抗体效价＝f/eBug1/mL)低的值的婴儿预测为对过敏原发生过敏的风险高的婴儿。 8.如权利要求1～7中任一项所述的方法，其特征在于，判断基准中还包含从婴儿采集的试样中的IgE抗体与过敏原的亲和性程度。
所属类别：	发明专利